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FR的工具基于白光反射光譜（Reports），準(zhǔn)確同步的厚度測量及薄膜的折射率
一個廣泛的多樣化的應(yīng)用范圍廣泛的光電特性的工具和整體解決方案，如：
半導(dǎo)體，
有機(jī)電子，
聚合物，
涂料和涂料，
光伏，
生物傳感
化學(xué)傳感
FR -監(jiān)控軟件
用于控制的FR -掃描儀、執(zhí)行數(shù)據(jù)采集和分析薄膜的厚度。該系統(tǒng)簡單易學(xué)，對于初學(xué)者能很
快掌握適用于各種windows系統(tǒng)。
4英寸硅片退火處理后二氧化硅膜厚映射
8英寸硅片上沉積多晶硅層的膜厚映射
在3英寸硅片SU-8膠薄膜厚度映射
暫無數(shù)據(jù)！
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