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面議型號(hào)
德國菲希爾FISCHER XUL \ XULM X 射線熒光鍍層測(cè)厚儀品牌
上海翔研產(chǎn)地
上海樣本
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在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且精確地測(cè)定鍍層厚度時(shí),XUL? 系列測(cè)量?jī)x器是您的**解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量,能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。
特性:
● 憑借寬大的測(cè)量室和自下而上的測(cè)量方向,即使大型樣品(如:印制電路板或柔性電路板)也可簡(jiǎn)便、快速地定位
● 硬件選項(xiàng)豐富多樣,可滿足各種測(cè)量需求
● 可選配微聚焦 X 射線管,從而可測(cè)量直徑僅為 100 μm 的微型結(jié)構(gòu)和測(cè)量表面
應(yīng)用:
● 鉻鍍層,如:經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
● 防腐蝕鍍層,如鋼材上的鋅鍍層
● 印制電路板和柔性電路板上的鍍層
● 接插件和連接器上的鍍層
● 電鍍槽液分析
暫無數(shù)據(jù)!