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        A4P四點探針自動電阻率測繪系統(tǒng)
        A4P四點探針自動電阻率測繪系統(tǒng)

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        邁可諾技術(shù)有限公司

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        A4P四點探針自動電阻率測繪系統(tǒng)
        A4P系列晶圓電阻率映射器使用經(jīng)過驗證的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),可以快速,準(zhǔn)確,可靠地測量樣品電阻率分布。MicroXact的四點探針通過使電流通過四點探頭的外部點并測量內(nèi)部點的電壓來測量半導(dǎo)體晶圓層的平均電阻。然后可以通過將薄層電阻乘以薄膜的厚度來找到電阻率的值,即賦予其電阻的材料的性質(zhì)。

        A4P四點探頭采用100mm,150mm,200mm300mm系統(tǒng),無需維護(hù)且易于使用。該系統(tǒng)有多種選擇,包括寬范圍熱測試,非標(biāo)準(zhǔn)材料的定制卡盤和幾乎適用于任何應(yīng)用的4點探針。

        電阻率測量自動化軟件

        A4P-200-PLUS自動化軟件允許使用電阻率測繪系統(tǒng)進(jìn)行半自動或全自動測試。該接口設(shè)計簡單但功能強(qiáng)大,允許用戶輕松設(shè)置幾乎任何類型晶圓結(jié)構(gòu)的自動測試程序。基于LabView的軟件采用邏輯結(jié)構(gòu),可輕松集成客戶自己的測試和測量設(shè)備。該軟件可以安裝在任何裝有Windows XP或更高版本操作系統(tǒng)的PC上。

        A4P四點探頭功能

        系統(tǒng)提供快速,準(zhǔn)確的測量并且非常用戶友好。

        直觀的基于LabView的開源軟件提供各種數(shù)據(jù)處理選項以及結(jié)果的二維和三維映射。

        可以表征的各種材料和結(jié)構(gòu)。

        寬電阻率測量和薄層電阻范圍。

        溫度范圍:從低于-60°C到超過300°C。

        可選擇1種,5種,9種,25種,49種或121種測量模式以及自定義電阻率測量模式。

        可調(diào)式真空吸盤適用于5mm300mm的樣品尺寸。

        ASTM,SEMI或簡單輸出的快速測量模式。

        點擊或點擊或直接坐標(biāo)輸入晶圓導(dǎo)航。

        Jandel探頭兼容。

        該系統(tǒng)的真空或受控環(huán)境版本可用于擴(kuò)展溫度測試的電阻率測試。

        自動化軟件功能

        在大多數(shù)情況下,所有自動化,測量和數(shù)據(jù)采集都可以通過在簡單的筆記本電腦上運行的軟件包進(jìn)行管理。

        不需要昂貴的硬件。

        軟件允許用戶生成測量圖案圖。

        軟件允許用戶生成結(jié)果的2D3D地圖。

        軟件輸出電阻和電阻率或厚度測量值。

        軟件輸出電阻和電阻率或厚度測量值。

        軟件內(nèi)置了熱卡盤的完全控制,允許復(fù)雜且高度可定制的測試序列。

        該軟件是開源的,客戶可以對其進(jìn)行定制以滿足任何特定需求。

        MicroXact團(tuán)隊與客戶一起努力,盡快開發(fā)出的自動化解決方案。

        A4P 4點探頭規(guī)格

        A4P-200-TC

        以下規(guī)格適用于標(biāo)準(zhǔn)配置。在大多數(shù)情況下,每個A4P 4點探針系統(tǒng)都可以定制,以超過這些值。

        晶圓尺寸高達(dá)300mm

        真空吸盤多區(qū)真空

        兼容的探頭 Jandel探頭

        饋通終端 BNC,Triax或香蕉插頭

        自動化軟件基于LabView,與Windows兼容

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        10分

        性價比

        10分
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