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        Lexsygsmart用熱釋光法檢測輻照后食品
        Lexsygsmart用熱釋光法檢測輻照后食品

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        束蘊儀器(上海)有限公司

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        釋光的概念

        釋光就是礦物晶體受到環(huán)境電離輻射作用而積蓄起來的能量在受到熱或激發(fā)時,以光子的形式釋放能量的一種物理現(xiàn)象。

        礦物結(jié)晶形成后,因晶體結(jié)構(gòu)中的缺陷或者雜質(zhì)的存在而形成陷阱,來自周圍環(huán)境中的電離輻射會在晶體中產(chǎn)生輻射損傷,并在晶體中生成電子-空穴對,部分電子被陷阱 俘獲,在較深的陷阱內(nèi)的電子很穩(wěn)定,累積的電子數(shù)與輻射的劑量成正比,只有在受 到外部能量的刺激(加熱或光照)時,電子才可能逃出“陷阱”,逃出的電子與空穴 復(fù)合,部分能量以光子的形式釋放,受光照激發(fā)的釋光稱為光釋光(Photo Stimulate Luminescence ,簡稱PSL),而受熱激發(fā)的釋光稱為熱釋光

        Thermoluminescence 簡稱 TL)。

        Lexsygsmart 熱釋光

        TL版本(不需要OSL單元)

        自動操作多達(dá)40個樣品

        可集成X射線管

        兼容Tlstudio軟件

        加熱器溫度可達(dá) 500°C

        TL 信號--辣椒

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