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NanoMap-1000WLI 膜厚儀
儀器簡介:
該膜厚儀提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數(shù)據(jù)。表面統(tǒng)計的計算包括峰值和谷值分析?;诟盗⑷~變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖。
主要特點:
◆微觀二維(2D)和三維(3D)形貌輪廓獲取
◆多種測量功能
將采樣數(shù)據(jù)運算后,可獲得精確定量的面積(空隙率,缺陷密度,磨損輪廓截面積等)、體積(孔深,點蝕,圖案化表面,材料表面磨損體積以及球狀和環(huán)狀工件表面磨損體積等)、臺階高度、線與面粗糙度,透明膜厚、薄膜曲率半徑以及其它幾何參數(shù)等測量數(shù)據(jù)。
NanoMap-1000WLI
NanoMap-1000WLI膜厚儀是非接觸式三維高清圖像的光學輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像、大的掃描范圍,可定制的波長范范圍,使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌。提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計算、曲率計算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動動態(tài)存儲、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數(shù)據(jù)。表面統(tǒng)計的計算包括峰值和谷值分析?;诟盗⑷~變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測量的地區(qū)差異繪圖。
膜厚儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺階高度,二維粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積,劃痕體積,磨損面積,磨損體積,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。
測量表面可以覆蓋90%以上材料表面。設(shè)備傳感器精度高,穩(wěn)定性好,材料應(yīng)用面廣。熱噪聲是同類產(chǎn)品*低的。垂直分辨率可達0.01 nm ( phase-shift mode) 可測跨學科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面,包括透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…);
三維形貌儀
參數(shù)性能追尋持續(xù)改進的目標
AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù)。 欲了解**的配置和性能,請與我們聯(lián)系。
搭載多鏡頭 *多可同時搭載6枚物鏡
Z軸聚焦范圍 0.1納米至10mm
手動旋轉(zhuǎn)平臺范圍 360度
高清圖像
2維、3維的直方圖等視圖
白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像。利用所提供的軟件,通過設(shè)置一些選項、可以得到客戶需求的的曲線、標繪、視圖(例如直方圖及雷達圖等)
成像光源
長壽命強光LED,用戶可自選波長范圍
白光干涉儀對其光源承諾****的十年質(zhì)保。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到100%(高亮度的LED使反射率從小于0.4%到100%的樣品均可清晰成像。)白光干涉光源承諾十年質(zhì)保。
三維形貌儀允許客戶改變可用波長掃描各種樣品。
聯(lián)系方式:aep Technology
電話:+86-010-68187909
傳真:+86-010-68187909
手機:+86-何先生
公司網(wǎng)址:
關(guān)
暫無數(shù)據(jù)!