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NanoMap-1000WLI

非接觸式三維高清圖像的光學(xué)輪廓儀白光干涉儀器 - 白光干涉帶來了高的分辨率、 400萬像素的圖像、大的掃描范圍，可定制的波長范范圍，使用戶可以輕松靈活的的到任何表面形貌。提供了二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計(jì)算、曲率計(jì)算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等。綜合繪圖軟件可以采集、分析、處理和可視化數(shù)據(jù)。表面統(tǒng)計(jì)的計(jì)算包括峰值和谷值分析?；诟盗⑷~變換的空間過濾工具使得高通、低通、通頻帶和帶阻能濾波器變的容易。多項(xiàng)式配置、數(shù)據(jù)配置、掃描、屏蔽和插值。交互縮放。X-Y和線段剖面。三維線路、混合和固定繪圖。用于階越高度測(cè)量的地區(qū)差異繪圖。

三維表面形貌/輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra，Rq，Rmax...），三維粗糙度（Sa，Sq，Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。

測(cè)量表面可以覆蓋90%以上材料表面。設(shè)備傳感器精度高，穩(wěn)定性好，材料應(yīng)用面廣。熱噪聲是同類產(chǎn)品*低的。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm ( phase-shift mode) 可測(cè)跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；

光學(xué)輪廓儀參數(shù)性能

參數(shù)性能追尋持續(xù)改進(jìn)的目標(biāo)

AEP的技術(shù)致力于日新月異的改善產(chǎn)品性能參數(shù)。 欲了解**的配置和性能，請(qǐng)與我們聯(lián)系。

垂直分辨率 0.01nm

搭載多鏡頭 *多可同時(shí)搭載6枚物鏡

平臺(tái)范圍 150毫米x 150毫米（可選200毫米或更大）

物鏡倍數(shù) 2.5倍到100倍

Z軸測(cè)量范圍 20微米至10mm

傾斜角度 + / - 4度

手動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)范圍 360度

像素標(biāo)準(zhǔn) 1024X1024，可選的1920X1920

高清圖像 2維、3維的直方圖等視圖

白光干涉可以呈現(xiàn)2維和3維圖像。利用所提供的軟件，通過設(shè)置一些選項(xiàng)、可以得到客戶需求的的曲線、標(biāo)繪、視圖（例如直方圖及雷達(dá)圖等）

成像光源

長壽命強(qiáng)光LED，用戶可自選波長范圍

白光干涉儀對(duì)其光源承諾****的十年質(zhì)保。高亮的LED允許成像樣品的反射率范圍從小于0.4%到100%（高亮度的LED使反射率從小于0.4%到100%的樣品均可清晰成像。）白光干涉光源承諾十年質(zhì)保。

白光干涉儀也允許客戶改變可用波長掃描各種樣品。

聯(lián)系方式：aep Technology

電話：+86-010-68187909

傳真：+86-010-68187909

手機(jī)：+86-何先生

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