參考價(jià)格
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美國(guó)樣本
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臺(tái)階儀,
NanoMap-LS 接觸式三維表面臺(tái)階儀
探針臺(tái)階儀是利用探針掃描樣品表面,儀器記錄探針隨樣品表面高低起伏狀態(tài),整合數(shù)據(jù)得到臺(tái)階高度,表面形貌,溝槽深度等特征。
針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式,
實(shí)時(shí)彩色光學(xué)照相機(jī)直接觀測(cè)
雙光學(xué)傳感器 縱向測(cè)量范圍**至1000um,*小到分辨率0.1nm
三維表面輪廓測(cè)量和粗糙度測(cè)量,即適用于精密拋光的光學(xué)表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機(jī)加工零件。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!