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        SPIP材料表面分析軟件
        SPIP材料表面分析軟件

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        多年來,掃描探針圖像處理軟件SPIP™,已經(jīng)成為實際意義上的納米級圖像處理的標(biāo)準(zhǔn)。**版SPIP™發(fā)布于1995年。然而Image Metrology公司的創(chuàng)始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就開始在其工科博士研究部分項目中開發(fā)SPIP™圖像處理軟件。期間曾與IBM及丹麥基礎(chǔ)計量研究所及丹麥科技大學(xué)等單位合作開發(fā)SPIP™軟件。

        在超過42個國家的前沿的研究機(jī)構(gòu)和高科技公司將SPIP™圖像處理軟件應(yīng)用于半導(dǎo)體檢測中,物理,材料科學(xué),化學(xué),生物學(xué),計量學(xué)技術(shù),納米技術(shù)等很多領(lǐng)域。

        SPIP™圖形分析軟件支持包括掃描探針顯微(SPM),干涉顯微鏡,掃描電子顯微鏡(SEM),共聚焦顯微鏡,光學(xué)顯微鏡,和三維輪廓儀等各種類型的顯微鏡及他們所生成的數(shù)據(jù)文件。無論你是資深的用戶或者是剛剛?cè)腴T的圖像處理的初學(xué)者。使用SPIP™圖像處理軟件,您只需點擊幾下鼠標(biāo)即可得到您需要的分析結(jié)果。

        SPIP™圖像處理軟件是一個模塊化的軟件,提供包括一個基礎(chǔ)軟件分析模塊和13個可選的附加模塊?;A(chǔ)模塊包含必要的基本特征分析,例如文件讀取、數(shù)據(jù)分析、平面校正等功能。附加模塊則是為針對某些特定功能測試提供,包括歸一化校準(zhǔn)、降低噪聲、分析、3D構(gòu)建。在隨后的彩頁中你會發(fā)現(xiàn)各項功能的詳細(xì)介紹。從中您可以學(xué)到如何提高您工作的效率和質(zhì)量。

        ¨ 掃描探針顯微鏡(SPM)

        ¨ 掃描電子顯微鏡(SEM)

        ¨ 透射電子顯微鏡(TEM)

        ¨ 干涉儀

        ¨ 共焦顯微鏡

        ¨ 三維輪廓儀

        ---基本分析模塊

        校準(zhǔn)和特征展現(xiàn)

        ---校準(zhǔn)

        ---針尖的表征

        降低噪聲,提高特征

        ---相關(guān)平均

        ---濾波

        ---擴(kuò)展的傅立葉分析

        測量和分析

        ---粒度分析

        ---粗糙度及硬度分析

        ---力曲線的分析

        ---隧道效應(yīng)光譜電流圖像

        可視化

        ---三維可視化工作環(huán)境

        ---視頻與時間序列分析

        增益生產(chǎn)能力

        批量處理模塊和自動報告

        組織

        --- 圖片瀏覽器

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        ---插頭接口

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        10分

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        10分
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