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        自動缺陷檢查和表面粗糙度測量的AFM
        自動缺陷檢查和表面粗糙度測量的AFM

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        型號

        Simply the best AFM for automatic defect review and surface

        品牌

        Park

        產(chǎn)地

        韓國

        樣本

        暫無
        韓國帕克股份有限公司

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        Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement

        對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言,識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析,從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接,這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)*低的本底噪聲和獨特的True Non-Contact?技術(shù),Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量*精確的原子力顯微鏡。

        Higher Throughput, Automatic Defect Review


        對于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言,識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析, 從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接,這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。


         


        Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement


        業(yè)內(nèi)對于超平媒介和基體的要求越來越高,所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)*低的本底噪聲和獨特的True Non-Contact?技術(shù),Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量*精確的原子力顯微鏡。


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