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對(duì)于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級(jí)缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級(jí)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過(guò)程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)*低的本底噪聲和獨(dú)特的True Non-Contact?技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量*精確的原子力顯微鏡。
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業(yè)內(nèi)對(duì)于超平媒介和基體的要求越來(lái)越高，所以需要滿(mǎn)足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)*低的本底噪聲和獨(dú)特的True Non-Contact?技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量*精確的原子力顯微鏡。
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