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專為超大納米平板顯示器測量而設計的自動化原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)品牌
Park產地
韓國樣本
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隨著對大型平板顯示器原子力顯微鏡計量需求的增加,Park NX-TSH 通過利用探針掃描器和龍門式氣浮臺的結合,克服了針對大型和重型樣品進行納米計量的巨大挑戰(zhàn)。Park NX-TSH能獲得高分辨率的表面粗糙度測量,臺階高度測量和關鍵尺寸測量。
為OLED面板行業(yè)整片測量,超高尺寸鏡片測量,提供全自動的原子力顯微鏡計量解決方案。
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