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        全自動型原子力顯微鏡
        全自動型原子力顯微鏡

        參考價格

        100-150萬元

        型號

        AFM5500M

        品牌

        日立

        產(chǎn)地

        日本

        樣本

        暫無
        日立高新技術(shù)公司.

        會員

        |

        第8年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實

        留言詢價
        核心參數(shù)
        • 分辨率:

          ·
        • 重現(xiàn)性:

          ·
        • 儀器原理:

          圖像分析
        • 分散方式:

          ·
        • 測量時間:

          ·
        • 測量范圍:

          直徑≤100mm,厚度≤20mm
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         面議

        型號:

          AFM5500M

        品牌:

         日立

        產(chǎn)地:

         日本

        樣本: 【暫無】信息完整度: 
        典型用戶: 0

        儀器種類:

         原子力顯微鏡

        樣品臺移動范圍:

         100mm*100mm

        樣品尺寸:

         直徑≤100mm,厚度≤20mm

        定位檢測噪聲:

         ≤ 0.04 nm (High-resolution mode)

        價格區(qū)間:
        產(chǎn)地類別:

         進口儀器

        1. 自動化功能

        • 高度集成自動化功能追求高效率檢測

        • 降低檢測中的人為操作誤差



        2. 可靠性

        排除機械原因造成的誤差

        大范圍水平掃描

        采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對掃描器圓弧運動所產(chǎn)生的曲面,通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)。但是,用軟件校正方式不能完全消除掃描器圓弧運動的影響,圖片上經(jīng)常發(fā)生扭曲效果。
        AFM5500M搭載了**研發(fā)的水平掃描器,可實現(xiàn)不受圓弧運動影響的準確測試。


        高精角度測量

        普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器,在豎直伸縮的時候,會發(fā)生彎曲(crosstalk)。這是圖像在水平方向產(chǎn)生形貌誤差的直接原因。
        AFM5500M中搭載的全新掃描器,在豎直方向上不會發(fā)生彎曲(crosstalk) ,可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。



        3. 融合性

        親密融合其他檢測分析方式

        通過SEM-AFM的共享坐標樣品臺,可實現(xiàn)在同一視野快速的觀察分析樣品的表面形貌,結(jié)構(gòu),成分,物理特性等。

        •     通過分析AFM圖像可以判斷,SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。

        •     石墨烯層數(shù)不同導致表面電位(功函數(shù))的反差。

        •      SEM圖像對比度不同,可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。

        與其他顯微鏡以及分析儀器聯(lián)用正在不斷開發(fā)中。

         


        創(chuàng)新點

        高度集成自動化功能追求高效率檢測
        降低檢測中的人為操作誤差
        排除機械原因造成的誤差
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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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