誤差率：
*分辨率：
*重現(xiàn)性：
*儀器原理：
其他分散方式：
*測量時間：
*測量范圍：
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作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器，其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯誤的存在。Park NX20，這款全球*精密的大型樣品原子力顯微鏡，憑借著出色的數(shù)據(jù)準確性，在半導體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚。
Park NX20具備****的功能，可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因，并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。****的精密度為您帶來高分辨率數(shù)據(jù)，讓您能夠更加專注于工作。與此同時，真正非接觸掃描模式讓探針尖端更鋒利、更耐用，無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和**。。
ParkNX20擁有業(yè)界*為便捷的設計和自動界面，讓你在使用時無需花費大量的時間和精力，也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點，您可以更加專注于解決更為重大的問題，并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。
NX20的創(chuàng)新架構(gòu)讓您可以檢測樣品的側(cè)壁和表面，并測量它們的角度。眾多的功能和用途正是您的創(chuàng)新性研究和敏銳洞察力所必備的。
Park NX20特點
低噪聲XYZ位置傳感器 高速Z軸掃描器，掃描范圍達15um
自動多點樣品掃描 集成編碼器的XY自動樣品載臺
掃描頭滑動嵌入式設計 操作方便的樣品臺
用于高級掃描模式易插拔擴展槽 同軸高功率光學集成LED照明和CCD系統(tǒng)。
高速24位數(shù)字電子控制器 自動Z軸移動和聚焦系統(tǒng)
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