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Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 
專(zhuān)為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
基本信息

儀器型號(hào)：Z3000 

工作原理：

粒度分布：動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）

ZETA電位：多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）

檢測(cè)范圍： 

粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

ZETA電位 +/- 500mV

Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號(hào)380ZLS&S基礎(chǔ)上升級(jí)配套而來(lái)，采用動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測(cè)分析顆粒的粒度分布，同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS）檢測(cè)ZETA電位。粒徑檢測(cè)范圍 0.3nm – 10μm，ZETA電位檢測(cè)范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯（ Gaussian）單峰算法和擁有**技術(shù)的 Nicomp 多峰算法，對(duì)于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極，一個(gè)電極可以使用成千上萬(wàn)次。另外，采用可變電場(chǎng)適應(yīng)不同的樣品檢測(cè)需求。既保證檢測(cè)精度，亦幫用戶大大節(jié)省檢測(cè)成本。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

1、APD&PMT雙檢測(cè)器；

2、多角度檢測(cè)（multi angle）模塊；

3、可搭配不同功率光源；

4、雙列直插式電極和樣品池，可反復(fù)使用成千上萬(wàn)次；

5、鈀電極；

6、精確度高，*接近樣品真實(shí)值；

7、復(fù)合型算法：

 高斯（Gaussion）單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

 相位分析法（PALS)和頻譜分析法（FALS）自由切換

8、快速檢測(cè)，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；

9、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；

10、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；

11、無(wú)需校準(zhǔn)；

12、復(fù)合型算法：

（1）高斯（Gaussion）單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)；

（1）可自動(dòng)稀釋模塊**；

（2）搭配多角度檢測(cè)器；

（3）自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；

380/MA多角度檢測(cè)器

粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器，從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品，通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè)，改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。

Nicomp多峰分布概念

      基線調(diào)整自動(dòng)補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨(dú)有的兩個(gè)主要特點(diǎn)，Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識(shí)到傳統(tǒng)的動(dòng)態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布，這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符，因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系，非單分散體系，而且高斯分布靈敏性不足，分辨率不高，這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開(kāi)創(chuàng)性的開(kāi)創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論，大大提高了動(dòng)態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。

圖一：Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)

      如圖一：此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測(cè)其血液所得的真實(shí)案例。其檢測(cè)項(xiàng)目為：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，由圖中可以看出，其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可見(jiàn)，Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。

Nicomp多峰分布優(yōu)勢(shì)

       Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果，更可以通過(guò)Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì)，Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。

圖二：高斯分布及Nicomp多峰分布對(duì)比圖

      如圖二：此數(shù)據(jù)為檢測(cè)93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測(cè)得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布（Gaussian）結(jié)果，右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果，兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù)。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間，卻無(wú)法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu)。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰，即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn)，體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近，這和實(shí)際情況相符。

      為滿足不同客戶的實(shí)際檢測(cè)需求，我司的Nicomp 380 N3000會(huì)配備相應(yīng)的配置，旨在為客戶們?cè)诳刂瞥杀镜幕A(chǔ)上，得到需求的解決方案，達(dá)到收益**化。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

模塊化設(shè)計(jì)

      Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級(jí)和增加，Nicomp 380的功能體系越來(lái)越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測(cè)分析。

自動(dòng)稀釋模塊

      帶有**的自動(dòng)稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來(lái)的誤差，且不需要人工不斷試錯(cuò)來(lái)獲得合適的測(cè)試濃度，這大大縮短了測(cè)試者寶貴時(shí)間，且無(wú)需培訓(xùn)，測(cè)試結(jié)果重現(xiàn)性好，誤差率＜1%。

380/HPLD大功率激光器

      美國(guó)PSS粒度儀公司在開(kāi)發(fā)儀器的過(guò)程中，考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測(cè)試條件中不同的需求，對(duì)不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對(duì)極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號(hào)，使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣，大功率激光器在測(cè)試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助，比如在檢測(cè)右旋糖酐大分子時(shí)，折射率的特性會(huì)引起光散射強(qiáng)度不足。                                    

      因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?，?huì)彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減，測(cè)試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒(méi)有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。

雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測(cè)器

      Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和軍品級(jí)別的雪崩二極管檢測(cè)器（相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有7-10倍放大增益效果）。

      APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來(lái)增加信噪比和敏感度，如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán)，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低，這些顆粒是由對(duì)光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測(cè)分析納米級(jí)顆粒的分布情況。

380/MA多角度檢測(cè)器

      粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會(huì)朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測(cè)角器通過(guò)調(diào)節(jié)檢測(cè)角度來(lái)增加粒子對(duì)光的敏感性來(lái)測(cè)試某些特殊級(jí)別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175，步長(zhǎng)0.7°的多角度測(cè)角器，從而使得單一90°檢測(cè)角測(cè)試不了的樣品，通過(guò)調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測(cè)，改善對(duì)大粒子多分散系粒徑分析的精確度。

工作原理

目錄結(jié)構(gòu)：
    

1. 前言

2. 動(dòng)態(tài)光散射粒度儀原理

3. 動(dòng)態(tài)光散射理論：光的干涉

4. 粒子的擴(kuò)散效應(yīng)

5. Stoke-Einstein方程式

6. 自相關(guān)函數(shù)原理

7. ZETA電勢(shì)電位原理

前言     

       近十幾年來(lái)，動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)（Dynamic Light scattering, DLS），也被稱(chēng)為準(zhǔn)彈性光散射（quasi-elastic light scattering, QELS）或光子相關(guān)光譜法（photon correlation spectroscopy， PCS）,已經(jīng)被證明是表征液體中分散體系的粒徑分布（PSD）的極有用的分析工具。DLS技術(shù)的有效檢測(cè)粒徑范圍——從5am（0.005微米）到10幾個(gè)微米。DLS技術(shù)的優(yōu)勢(shì)相當(dāng)明顯，尤其是當(dāng)檢測(cè)到300nm以下亞微米的粒徑范圍時(shí)，在此區(qū)間，其他的技術(shù)手段大部分都已經(jīng)失效或者無(wú)法得到準(zhǔn)確的結(jié)果。因此，基于DLS理論的設(shè)備儀器被廣泛采用用以表征特定體系的粒度分布，包括合成的高分子聚合物(如乳膠，PVCs等)，水包油和油包水的乳劑，囊泡，膠團(tuán)，微粒，生物大分子，顏料，燃料，硅土，金屬晶體，陶瓷和其他的膠體類(lèi)混懸劑和分散體系。

動(dòng)態(tài)光散射原理 

       下圖所示為DLS系統(tǒng)的簡(jiǎn)單的示意圖。激光照射到盛有稀釋的顆粒混懸液的玻璃試管中。此玻璃試管溫度恒定，每一個(gè)粒子被入射光擊發(fā)后向各個(gè)方向散射。散射光的光強(qiáng)值和粒徑的分子量或體積（在特定濃度下）成比例關(guān)系，再帶入其他影響參數(shù)比如折射率，這就是經(jīng)典光散射（Classic light scattering)的理論基礎(chǔ)。

圖1：DLS系統(tǒng)示意圖

**的動(dòng)態(tài)光散射方法（DLS）從傳統(tǒng)的光散射理論中分離，不再關(guān)注于光散射的光強(qiáng)值，而關(guān)注于光強(qiáng)隨著時(shí)間的波動(dòng)行為。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，我們?cè)谝欢ń嵌龋ㄒ话闶褂?0°角）檢測(cè)分散溶劑中的混懸顆粒的總體散射光信息。由于粒度的擴(kuò)散，光強(qiáng)值不斷波動(dòng)，理論上存在有非常理想化的波動(dòng)時(shí)間周期，此波動(dòng)時(shí)間和粒子的擴(kuò)散速度呈反比例關(guān)系。我們通過(guò)光強(qiáng)值的波動(dòng)自相關(guān)函數(shù)的計(jì)算來(lái)獲得隨時(shí)間變化的衰減指數(shù)曲線。從衰減時(shí)間常量τ，我們可以獲得粒子的擴(kuò)散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我們*終可以計(jì)算得出顆粒的半徑（假定其是一個(gè)圓球形狀）。

動(dòng)態(tài)光散射理論：光的干涉

       為了容易理解什么叫做強(qiáng)度隨時(shí)間波動(dòng)，我們必須先理解相干疊加（coherent addition）或線性疊加（superposition）的概念,進(jìn)一步要知道檢測(cè)區(qū)域內(nèi)的不同的粒子產(chǎn)生了很多獨(dú)立散射光，這些獨(dú)立的散射光相干疊加或互相疊加的*終結(jié)果就是光強(qiáng)。這種物理現(xiàn)場(chǎng)被稱(chēng)為“干涉”。下圖是光干涉圖樣。

       每一束獨(dú)立的散射光波到達(dá)檢測(cè)器和入射激光波長(zhǎng)有相位關(guān)系，這主要取決于懸浮液中顆粒的精確定位。所有的光波在PMT檢測(cè)器的表面的狹縫中混合在一起，或者叫干涉在一起，*終在特定的角度可以檢測(cè)得到“凈”散射光強(qiáng)值，在DLS系統(tǒng)中，絕大部分都使用90度角。

小知識(shí)——光電倍增管（PMT) 

       光電倍增管（Photomultiplier，簡(jiǎn)稱(chēng)PMT），是一種對(duì)紫外光、可見(jiàn)光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進(jìn)入的微弱光信號(hào)增強(qiáng)至原本的108倍，使光信號(hào)能被測(cè)量。

光電倍增管示意圖

小知識(shí)——光電倍增管（PMT)

MT)

光電倍增管（Photomultiplier，簡(jiǎn)稱(chēng)PMT），是一種對(duì)紫外光、可見(jiàn)光和近紅外光極其敏感的特殊真空管。它能使進(jìn)入的微弱光信號(hào)增強(qiáng)至原本的108倍，使光信號(hào)能被測(cè)量。

光電倍增管示意圖

工作原理

光電倍增管是由玻璃封裝的真空裝置，其內(nèi)包含光電陰極 (photocathode)，幾個(gè)二次發(fā)射極 (dynode)和一個(gè)陽(yáng)極。入射光子撞擊光電陰極，產(chǎn)生光電效應(yīng)，產(chǎn)生的光電子被聚焦到二次發(fā)射極。其后的工作原理如同電子倍增管，電子被加速到二次發(fā)射極產(chǎn)生多個(gè)二次電子，通常每個(gè)二次發(fā)射極的電位差在 100 到 200 伏特。二次電子流像瀑布一般，經(jīng)過(guò)一連串的二次發(fā)射極使得電子倍增，*后到達(dá)陽(yáng)極。一般光電倍增管的二次發(fā)射極是分離式的，而電子倍增管的二次發(fā)射極是連續(xù)式的。

應(yīng)用

       光電倍增管集高增益，低干擾，對(duì)高頻信號(hào)有高靈敏度的優(yōu)點(diǎn)，因此被廣泛應(yīng)用于高能物理、天文等領(lǐng)域的研究工作，與及流體流速計(jì)算、醫(yī)學(xué)影像和連續(xù)鏡頭的剪輯。雪崩光電二極管（Avalanche photodiodes，簡(jiǎn)稱(chēng)APDs）為光電倍增管的替代品。然而，后者仍在大部份的應(yīng)用情況下被采用。

動(dòng)態(tài)光散射理論：  粒子的擴(kuò)散效應(yīng)

       懸浮的粒子并不是靜止不動(dòng)的，相反，他們以布朗運(yùn)動(dòng)（Brownian motion)的方式無(wú)規(guī)則的運(yùn)動(dòng)，布朗運(yùn)動(dòng)主要是由于臨近的溶劑分子沖撞而引起的。因此，到達(dá)PMT檢測(cè)區(qū)的每一束散射光隨時(shí)間也呈無(wú)規(guī)則波動(dòng)，這是由于產(chǎn)生散射光的粒子的位置不同而導(dǎo)致的無(wú)規(guī)則波動(dòng)。因?yàn)檫@些光互相干涉在一起，在檢測(cè)器中檢測(cè)到的光強(qiáng)值就會(huì)隨時(shí)間而不斷波動(dòng)。粒子很小的位移需要在相位上產(chǎn)生很大的變化，進(jìn)而產(chǎn)生有實(shí)際意義的波動(dòng)，*終這些波動(dòng)在凈光強(qiáng)值上反應(yīng)出來(lái)。
       DLS測(cè)量粒徑技術(shù)的關(guān)鍵物理概念是基于粒子的波動(dòng)時(shí)間周期是隨著粒子的粒徑大小而變化的。為了簡(jiǎn)化這個(gè)概念，我們現(xiàn)在假定粒子是均一大小的，具有相同的擴(kuò)散系數(shù)（diffusion coefficient)。分散體系中的小粒子運(yùn)動(dòng)的快，將會(huì)導(dǎo)致光強(qiáng)波動(dòng)信號(hào)變化很快；而相反地，大粒子擴(kuò)散地畢竟慢，導(dǎo)致了光強(qiáng)值的變化比較慢。
        圖示4使用相同的時(shí)間周期來(lái)觀測(cè)不同大?。ㄐ?，中，大）的粒子產(chǎn)生的散射光強(qiáng)變化,請(qǐng)注意，橫坐標(biāo)是時(shí)間t。

我們需要再次強(qiáng)調(diào)，光強(qiáng)的波動(dòng)并不是因?yàn)闄z測(cè)區(qū)域內(nèi)粒子的增減引起的

 而是大量的粒子的位置變動(dòng)（位移）而引起的。

Stokes Einstein Equation

        DLS技術(shù)的目標(biāo)是從原始數(shù)據(jù)（raw data)中確定粒子的擴(kuò)散系數(shù)“D”。原始數(shù)據(jù)主要是指光強(qiáng)信號(hào)的波動(dòng)，比如上述圖4中所示。通過(guò)擴(kuò)散系數(shù)D我們可以很容易的計(jì)算出粒子的半徑，這時(shí)候就是廣為人知的Stokes-Einstein方程式：
D=kT/6πηR    （2）
這里k 指的是玻爾茲曼常數(shù)1.38 x 10-16 erg K-1；
T是**溫度；
η是分散溶劑的額剪切粘度，比如20℃的水的η=1.002×10-2 泊；
        從上述公式2中我們可以看到，通常情況下，粒子的擴(kuò)散系數(shù)D會(huì)隨著溫度T的上升而增加。溫度進(jìn)而也會(huì)影響溶劑粘度η。例如，純水的粘度在25℃下會(huì)落到0.890×10-2泊，和20℃下相比會(huì)有10%的改變。毫無(wú)疑問(wèn)，溶劑的粘度越小，粒子的無(wú)規(guī)則擴(kuò)散速度會(huì)越大，從而導(dǎo)致光強(qiáng)的波動(dòng)也越快。因此，溫度T的變化和粒徑的變化是完全分不開(kāi)的，因?yàn)樗麄兌加绊懙搅藬U(kuò)散系數(shù)D。正因?yàn)檫@個(gè)原因，樣本的溫度必須保持恒定，而且必須非常精確，這樣才能獲得有實(shí)際意義的擴(kuò)散系數(shù)D。
        從圖4的“噪聲”信號(hào)中無(wú)法直接提取出擴(kuò)散系數(shù)。但是可以清楚地看到，信號(hào)b比信號(hào)c波動(dòng)地快，但是比信號(hào)a波動(dòng)地慢，因?yàn)?，信?hào)b地粒徑一定在a和c之間，這只是很直觀地得到一個(gè)結(jié)論而已。然而，量化此種散射信號(hào)是一個(gè)很專(zhuān)業(yè)地課題。幸而，我們有數(shù)學(xué)方法來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題，這就是自相關(guān)函數(shù)（auto-correlation)。

自相關(guān)函數(shù)原理

       現(xiàn)在讓我們?cè)O(shè)定散射光強(qiáng)的自相關(guān)函數(shù)為IS(t)，在上述圖4中可以看到其隨時(shí)間而波動(dòng)。我們用C(t’)來(lái)標(biāo)識(shí)自相關(guān)函數(shù)。C(t’)可以通過(guò)如下方程式3來(lái)表達(dá)：
C(t’)=< Is(t)*Is(t-t’) >    (3)
括號(hào)< >表示有很多個(gè)t和對(duì)應(yīng)的Is值。也就是說(shuō)，一次計(jì)算就是運(yùn)行很多Is(t)*Is(t-t’) 的加和，所有都具有相同的間隔時(shí)間段t’。
       圖5是典型的Is(t)的波形圖，通過(guò)這張圖，我們可以認(rèn)為C(t’)和Is(t)之間有簡(jiǎn)單的比例關(guān)系，這張圖的意義在于通過(guò)C(t’)函數(shù)可以通過(guò)散射光強(qiáng)Is(t)的波動(dòng)變化“萃取”出非常有用的信息。

       自相關(guān)函數(shù)C(t’)其實(shí)是表征的不同大小的粒子隨時(shí)間而衰變的規(guī)律。

Zeta電勢(shì)電位原理

1.1 什么是ZETA電勢(shì)電位

1.2 STERN雙電子層

1.3 DLS散射系統(tǒng)是如何測(cè)ZETA電位的？

什么是ZETA電勢(shì)電位

Zeta電位（Zeta potential）是指剪切面(Shear Plane)的電位，又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)（ζ-電位或ζ-電勢(shì)），是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。

我們知道膠體系統(tǒng)中有兩個(gè)相，分散相和連續(xù)相，分散相在納米和亞微米之間。因?yàn)槲⒘５牧胶苄?，因此它比表面積大從而有一些增強(qiáng)屬性使其穩(wěn)定懸浮。但是如果微粒開(kāi)始絮凝，微粒的粒徑改變，性能也可能發(fā)生變化，如果不加以控制，絮凝體也可能進(jìn)一步團(tuán)聚形成沉淀，接著就會(huì)相位分離。當(dāng)我們建立穩(wěn)定分散體系時(shí)，我們需要維持微粒的穩(wěn)定與分散，其中一個(gè)方法就是增強(qiáng)微粒表面電荷，然后這些微粒將帶偶極矩互相之間產(chǎn)生排斥，隨著微粒電荷的增加，微粒團(tuán)聚而形成絮凝的幾率降低。讓微粒分散，帶正電荷還是帶負(fù)電荷并不重要，重要的是電荷的**值。我們研究微粒表面電荷的方法就是Zeta電勢(shì)電位。

STERN雙電子層

圖 1膠團(tuán)模型

膠核表面擁有一層離子，稱(chēng)為電位離子，電位離子通過(guò)靜電作用，把溶液中電荷相反的離子吸引到膠核周?chē)?，被吸引的離子稱(chēng)為反離子，越靠近膠核表面的地方反離子越密集，相反，越遠(yuǎn)的地方反離子越稀疏，他們的電荷總量與電位離子相等并且符號(hào)相反。因此，整個(gè)膠團(tuán)是處于電中性狀態(tài)，而膠核表面電勢(shì)是**的，根據(jù)定義Zeta電位即為膠核表面電勢(shì)。

圖 2 STERN雙電子層模型

STERN雙電子層即為膠核表面以及擴(kuò)散層共同形成的電子層模型，值得注意的是擴(kuò)散層中帶電離子是分布在連續(xù)相中，因此其與分散介質(zhì)息息相關(guān)（例如：通過(guò)水分散的體系，擴(kuò)散層離子濃度以及擴(kuò)散層寬度與水有很大關(guān)聯(lián)），所以擴(kuò)散層都沒(méi)有明確的邊界。

DLS散射系統(tǒng)如何測(cè)ZETA電位

目前測(cè)量ZETA電位的方法主要有電泳法、電滲法、流動(dòng)電位法以及超聲波法。Nicomp Z3000采用的是主流的電泳法測(cè)試ZETA。

圖 3 儀器內(nèi)部光路圖

圖3是Nicomp 380 Z3000設(shè)備內(nèi)部的光路圖，激光通過(guò)一個(gè)分光器分成兩組光路，一組通過(guò)反射鏡直接進(jìn)入檢測(cè)器，另一組經(jīng)過(guò)一個(gè)可調(diào)節(jié)的濾光片后，再經(jīng)由微粒散射進(jìn)入到相關(guān)檢測(cè)器中。觀察兩組相干光的頻率變化或者相位變化，從而計(jì)算得出ZETA電勢(shì)電位。

從微觀角度來(lái)理解ZETA電位的計(jì)算，微粒由于帶電量或是帶點(diǎn)符號(hào)不同，其在電場(chǎng)作用下的運(yùn)動(dòng)狀態(tài)也會(huì)不同，這種運(yùn)動(dòng)狀態(tài)我們用電泳淌度μ（帶電離子在單位場(chǎng)強(qiáng)下的平均電泳遷移速率）來(lái)表征，我們通過(guò)檢測(cè)器觀察到的兩組相干光的頻率或是相位變化，結(jié)合電場(chǎng)強(qiáng)度，相干光波長(zhǎng)等參數(shù)通過(guò)簡(jiǎn)單的數(shù)學(xué)建模計(jì)算得出粒子的電泳淌度μ，*終ZETA電位通過(guò)公式：

換算得出。η為分散劑的剪切粘度，ε為分散劑的介電常數(shù)。

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儀器參數(shù)

配件

應(yīng)用領(lǐng)域

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