看了DDCOM臺(tái)式X射線衍射儀的用戶又看了
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DDCOM 用于超快速晶體取向測(cè)量
用于晶體取向測(cè)量的臺(tái)式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動(dòng)測(cè)定各種晶體取向的工具。
超快速掃描方法
速度是Theta掃描方法的 200 倍
以3D形式自動(dòng)評(píng)估完整晶格取向
在10秒內(nèi)測(cè)定整個(gè)晶體取向
高效的質(zhì)量控制工作流程
用于標(biāo)準(zhǔn)研究和工業(yè)工作流程
晶體取向的方位設(shè)置和標(biāo)記
預(yù)編程的立方晶體參數(shù)
先進(jìn)便捷的軟件
精度高,可達(dá)(1/100)°
結(jié)構(gòu)緊湊、用戶友好、性價(jià)比高
樣品處理方便,操作簡(jiǎn)單
采用風(fēng)冷 X射線光管(無(wú)需水冷),能耗和運(yùn)行成本低
控制切割、研磨和拋光
單晶的完整晶格取向
適用于不同尺寸和重量的各種獨(dú)特材料,例如:2-12“的晶圓和重達(dá)20kg的鑄錠
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過(guò)程相對(duì)復(fù)雜、分析時(shí)間長(zhǎng)、梯度稀釋誤
2021-08-06
展期:2025年3月10日-12日展館:上海世博展覽館 H1 號(hào)館地址:上海市?浦東博成路850號(hào)展位號(hào):H1-A4262025年3月10日至12日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytica
為了更好的服務(wù)于一直以來(lái)選擇并支持馬爾文帕納科分析技術(shù)的廣大用戶,除了上述客戶關(guān)懷季的巡檢活動(dòng),我們還將在4月奉上一系列服務(wù)日活動(dòng):四場(chǎng)分別針對(duì)激光粒度儀、納米粒度儀、X射線衍射儀、X射線熒光光譜儀用
近日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)宣布其最新推出的X射線熒光光儀(XRF)"Revontium 極光"正式接受訂單,并成功在美國(guó)High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征,受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點(diǎn),若使用動(dòng)態(tài)光散射(DLS)技術(shù)進(jìn)行測(cè)試,信號(hào)弱,數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤(NTA)技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)、可視化的納米氣泡顆粒表
本文摘要磨料用SiO2 漿料的顆粒粒度對(duì)硅晶片的微觀形貌有直接影響,進(jìn)而會(huì)影響到后續(xù)工序電介質(zhì)膜的均勻性;此外,漿料的穩(wěn)定性也會(huì)影響晶片拋光過(guò)程,所以磨料的顆粒表征非常重要,本文介紹了利用動(dòng)態(tài)光散射技
除了化學(xué)性之外,金屬粉末的物理特性還決定這增材制造的性能,包括粉末的整體特性和單個(gè)金屬顆粒的特性。關(guān)鍵的整體特性是指堆積密度和流動(dòng)性。堆積密度和流動(dòng)性受顆粒粒度和形狀等形態(tài)特性的影響。本文將介紹顆粒粒