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面議型號
X'Pert3 MRD品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
荷蘭樣本
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N/A分辨率：
N/A重現(xiàn)性：
N/A儀器原理：
靜態(tài)光散射分散方式：
N/A測量時間：
3-5min測量范圍：
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X'Pert 平臺在馬爾文帕納科 X 射線衍射系統(tǒng)的新型 X'Pert3 系列中得以延用。 X'Pert3 平臺具有新型機(jī)載控制電子裝置，符合X 射線和運(yùn)動安全規(guī)范，且具有環(huán)保和可靠性能，已準(zhǔn)備好迎接未來的挑戰(zhàn)。
X'Pert3 MRD 系列新增功能具體包括：
? 全新高分辨率測角儀，它使用 Heidenhain 編碼器，因而準(zhǔn)確性更高且定位反饋時間更短
?無需使用工具即可快速將光管位置從點(diǎn)焦斑更改為線焦斑
? 得益于氣動快門和光束衰減器，系統(tǒng)正常運(yùn)行時間滿足過程控制要求
? CRISP*（包括無鉛光管塔）確保入射光路組件的壽命更長
? 第二代 PreFIX，確保實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的光學(xué)器件定位
? 面向未來的單板計(jì)算機(jī)控制器，確保更好的連接性和更出色的遠(yuǎn)程支持
*CRISP 指的是耐腐蝕智能入射光路。CRISP 可防止入射光路中出現(xiàn)由 X 射線引起的電離空氣造成的腐蝕。該技術(shù)使儀器運(yùn)行更可靠，避免額外的維護(hù)工作。
PreFIX 技術(shù)
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過程相對復(fù)雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
展期：2025年3月10日-12日展館：上海世博展覽館 H1 號館地址：上海市?浦東博成路850號展位號：H1-A4262025年3月10日至12日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytica
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近日，馬爾文帕納科（Malvern Panalytical）宣布其最新推出的X射線熒光光儀（XRF）"Revontium 極光"正式接受訂單，并成功在美國High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征，受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點(diǎn)，若使用動態(tài)光散射（DLS）技術(shù)進(jìn)行測試，信號弱，數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤（NTA）技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時、可視化的納米氣泡顆粒表
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