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Wafer XRD用于全自動晶圓揀選、生產(chǎn)和質(zhì)量控制
特點
適用于3到8寸晶圓。也可根據(jù)要求提供其他尺寸
FOUP、載具或單個晶圓臺
跨槽晶圓識別為可選功能
易于集成到任何工藝生產(chǎn)線中
測量速度:每個樣品<10秒
典型標(biāo)準(zhǔn)偏差(傾斜度):例如Si 100<0.003°
MES和SECS/GEM接口
銅靶微焦點風(fēng)冷X射線光管(**30W)或細(xì)焦點水冷X射線光管(**1.5kW)
完全符合CE標(biāo)準(zhǔn)的安全控制裝置
通過3色燈塔指示狀
材料
Si、SiC、GaAs、GaN、藍寶石(Al?O?)、Ge、AIN、石英、InP和100s等。
可選插件
電阻率測量范圍:0.01至0.020Ωcm
自動識別晶圓數(shù)據(jù)矩陣碼、二維碼、條形碼或類似代碼
未拋光晶圓和鏡面的距離測量
年產(chǎn)1,000,000片晶圓
暫無數(shù)據(jù)!
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過程相對復(fù)雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
近日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)宣布其最新推出的X射線熒光光儀(XRF)"Revontium 極光"正式接受訂單,并成功在美國High Desert A
馬爾文帕納科的粒度分析技術(shù)以其全面性、用戶友好性、在關(guān)鍵行業(yè)的廣泛應(yīng)用、可靠性、智能化、自動化以及持續(xù)的技術(shù)創(chuàng)新而受到業(yè)界的高度評價。一臺高性能的粒度分析設(shè)備,它不但會帶來更好的使用體驗,還會創(chuàng)造更多
9月21日,第十六屆馬爾文帕納科X射線分析儀器用戶技術(shù)交流會在上海西郊麗笙酒店落下帷幕,此次活動共有150多位業(yè)內(nèi)資深專家、行業(yè)用戶、企業(yè)代表齊聚一堂,聚焦X射線分析儀器技術(shù)發(fā)展及其熱點應(yīng)用,以豐富的
本文摘要利用XRF方法分析Li-NCM正極材料,已被證實具有非常好的精度和準(zhǔn)確度,可以高通量測試并獲得與ICP相媲美的高質(zhì)量的分析結(jié)果。那么利用占地更小、更經(jīng)濟、更易操作的能量色散型X射線熒光光譜儀是
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的Zeta電位測試報告中的的參數(shù)都有哪些,分別代表了什么含義?本文將逐一解釋。如下圖所示,Zetasizer的電位測試報告的形式分為三個部分:Sample
本文摘要在乳糖不耐性、營養(yǎng)需求和環(huán)保意識的驅(qū)動下,替代乳品的市場需求在全球范圍內(nèi)不斷擴大,馬爾文帕納科的多種分析技術(shù)在替代乳品的研發(fā)和質(zhì)量控制中發(fā)揮著重要作用,幫助企業(yè)確保替代乳品的營養(yǎng)成分和產(chǎn)品安全