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Omega/Theta XRD 用于超快速晶體定向和搖擺曲線測量
10秒內(nèi)完成晶體取向測定
Omega/Theta XRD為測定晶面取向提供了良好的綜合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短 10 秒內(nèi)返回結(jié)果,具有從條形碼閱讀器到晶體堆疊支架的許多工藝附件,可容納重量達(dá)30kg、長度達(dá) 450mm 的一系列樣品。它是將測量好的取向轉(zhuǎn)移到加工工具的可靠合作伙伴。
精度:在偏角幅度和面內(nèi)方向上達(dá)到<0.003°/<0.03°的精度(1σ)
10秒內(nèi)完成晶體取向測定
以3D形式自動評估完整晶格取向
用于研究和生產(chǎn)質(zhì)量的控制
晶體取向的方位設(shè)置和標(biāo)記
提供多種附件用于將取向轉(zhuǎn)移到其他工藝步驟
通過測角儀實(shí)現(xiàn)未知樣品的的掃描和定向
可使用搖擺曲線測量進(jìn)行晶體質(zhì)量評估
用戶友好、性價比高
樣品處理方便,操作簡單
用戶友好的高級軟件
能耗和運(yùn)行成本低
模塊化設(shè)計(jì)和靈活性
通過各種升級選項(xiàng)滿足未來需求
根據(jù)客戶要求為特殊應(yīng)用定制的解決方案
平邊和 V 槽的光學(xué)測量
暫無數(shù)據(jù)!
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過程相對復(fù)雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
展期:2025年3月10日-12日展館:上海世博展覽館 H1 號館地址:上海市?浦東博成路850號展位號:H1-A4262025年3月10日至12日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytica
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近日,馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)宣布其最新推出的X射線熒光光儀(XRF)"Revontium 極光"正式接受訂單,并成功在美國High Desert A
本文摘要納米氣泡的粒度表征,受限于其顆粒濃度低、粒徑分布寬等特點(diǎn),若使用動態(tài)光散射(DLS)技術(shù)進(jìn)行測試,信號弱,數(shù)據(jù)質(zhì)量較差。本文將介紹利用納米顆粒跟蹤(NTA)技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時、可視化的納米氣泡顆粒表
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除了化學(xué)性之外,金屬粉末的物理特性還決定這增材制造的性能,包括粉末的整體特性和單個金屬顆粒的特性。關(guān)鍵的整體特性是指堆積密度和流動性。堆積密度和流動性受顆粒粒度和形狀等形態(tài)特性的影響。本文將介紹顆粒粒