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飛行時(shí)間法（TOF）測(cè)量是表征有機(jī)半導(dǎo)體材料載流子遷移率的關(guān)鍵，T3000飛行時(shí)間測(cè)量系統(tǒng)基于
脈沖激光和高速測(cè)量電子學(xué)進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)飛行時(shí)間實(shí)驗(yàn);有助于載流子遷移率隨溫度變化的研究.
- 有機(jī)半導(dǎo)體中的載流子輸運(yùn)
- 電子/空穴遷移率的測(cè)量
- 飛行時(shí)間法測(cè)量(TOF)
- Dark Injection Transient (DIT)
- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)
- 低溫測(cè)量
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