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        光致發(fā)光檢測系統(tǒng)
        光致發(fā)光檢測系統(tǒng)

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        南京伯奢詠懷電子科技有限公司

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        儀器簡介:

        * 應(yīng)用領(lǐng)域

        - 常規(guī)的光致發(fā)光測量;

        - III-V族 化合物半導(dǎo)體材料摻雜水平分析、合成組分分析、帶隙分析等

        - LD, LED研發(fā),生產(chǎn)中品質(zhì)分析,控制

        -熒光檢測

        -EPI-Wafer auto PL Mapping

        -鉆石,珠寶鑒定,內(nèi)含物分析等。

        擴(kuò)展使用:

        -PLE(PL 激發(fā))

        -TRPL(time-resolved PL)

        -TDPL(temperature dependent PL)

        -Micro-PL

        -Confocal PL

        -nano PL by using Nsom(near -field scanning optical microscope

        主要特點:

        儀器特點

        • 高品質(zhì)及中等價位的PL掃描系統(tǒng)(可選配自動樣品掃描裝置,實現(xiàn)mapping功能);

        • 波長范圍寬廣(UV-VIS-NIR,);

        • 設(shè)備堅固,安全,更多于競爭公司產(chǎn)品的特點(如快速mapping檢測)

        • 噪聲低,高PL信號探測;

        • 可選配多種激發(fā)源(多種波長激光源)

        • 設(shè)計緊湊,易于調(diào)諧;

        • 各種激發(fā)激光源可選;

        • 光譜分析軟件可獲得光譜帶寬,峰值波長,峰值副瓣鑒別、光譜數(shù)據(jù)運算。。。。

        • 可實現(xiàn)同時對膜厚及反射率的檢測

        • 雙PL峰分離功能

        。。。。。。。

        本系統(tǒng)主要的特點:

        1。除激光外,同時可使用分光計和樣品chamber組合而成。

        2。利用He-Cd laser,laser power meter對可調(diào)節(jié)光強的ND filter和laser光強進(jìn)行監(jiān)控

        3。分光計部分追加了一個port,不僅可以通過CCD探測器進(jìn)行測定,也可通過PMT/IR Detector進(jìn)行測定。

        4。為了去除來自分光計2nd order的光,利用laser line filter控制cut off filter和laser的plasma line。

        根據(jù)客戶的需要可與如下裝置一起裝配:

        1。PL+Micro Raman(顯微拉曼系統(tǒng))

        2。PL+Cryostat(低溫裝置,4K,77K。。)

        3。PL+PLE

        4。PL+PLE+ATR

        。。。

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        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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