看了光致發(fā)光檢測系統(tǒng)的用戶又看了
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儀器簡介:
* 應(yīng)用領(lǐng)域
- 常規(guī)的光致發(fā)光測量;
- III-V族 化合物半導(dǎo)體材料摻雜水平分析、合成組分分析、帶隙分析等
- LD, LED研發(fā),生產(chǎn)中品質(zhì)分析,控制
-熒光檢測
-EPI-Wafer auto PL Mapping
-鉆石,珠寶鑒定,內(nèi)含物分析等。
擴(kuò)展使用:
-PLE(PL 激發(fā))
-TRPL(time-resolved PL)
-TDPL(temperature dependent PL)
-Micro-PL
-Confocal PL
-nano PL by using Nsom(near -field scanning optical microscope
主要特點:
儀器特點 :
• 高品質(zhì)及中等價位的PL掃描系統(tǒng)(可選配自動樣品掃描裝置,實現(xiàn)mapping功能);
• 波長范圍寬廣(UV-VIS-NIR,);
• 設(shè)備堅固,安全,更多于競爭公司產(chǎn)品的特點(如快速mapping檢測)
• 噪聲低,高PL信號探測;
• 可選配多種激發(fā)源(多種波長激光源)
• 設(shè)計緊湊,易于調(diào)諧;
• 各種激發(fā)激光源可選;
• 光譜分析軟件可獲得光譜帶寬,峰值波長,峰值副瓣鑒別、光譜數(shù)據(jù)運算。。。。
• 可實現(xiàn)同時對膜厚及反射率的檢測
• 雙PL峰分離功能
。。。。。。。
本系統(tǒng)主要的特點:
1。除激光外,同時可使用分光計和樣品chamber組合而成。
2。利用He-Cd laser,laser power meter對可調(diào)節(jié)光強的ND filter和laser光強進(jìn)行監(jiān)控
3。分光計部分追加了一個port,不僅可以通過CCD探測器進(jìn)行測定,也可通過PMT/IR Detector進(jìn)行測定。
4。為了去除來自分光計2nd order的光,利用laser line filter控制cut off filter和laser的plasma line。
根據(jù)客戶的需要可與如下裝置一起裝配:
1。PL+Micro Raman(顯微拉曼系統(tǒng))
2。PL+Cryostat(低溫裝置,4K,77K。。)
3。PL+PLE
4。PL+PLE+ATR
。。。
暫無數(shù)據(jù)!