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        JEOL JMS-S3000雷射輔助基質(zhì)離子-螺旋飛行質(zhì)譜儀
        JEOL JMS-S3000雷射輔助基質(zhì)離子-螺旋飛行質(zhì)譜儀

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        • 為增強解析度讓飛行距離變的更長Spiral TOF 使用螺旋式設計, 在較小的空間下可以達到*長飛行距離從而可以分析到更高解析度, 分子量準確度也更高

          TOF-TOF(選配)-也可以加強解析度及準確度選擇二次串聯(lián)螺旋飛行質(zhì)譜TOF-TOF 做結(jié)構(gòu)分析雙重質(zhì)譜MS/MS

          Linear TOF(選配)-可以做更高分子量如蛋白質(zhì)

          螺旋飛行質(zhì)譜儀使用特殊離子化方式MALDI 基質(zhì)輔助雷射脫附法(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization

          Spiral TOF-TOF特點

          1.高分子量, 高解度, 高準確度

          2.高精準選擇離子單一同位素分析

          ?長距離飛行解析度非常高

          ?由離子源到離子閘門距離15~17公尺

          3.消除PSD衍生離子

          4.高能量碰撞誘導解離-20 keV 實驗室瞬間碰撞能量HE-CID分離高活化能鍵結(jié), 自然單一碰撞重復性高

          5. 一次觀察所有離子

          6. 可以測到 m/z幾乎大分子物質(zhì)都可用Spiral Mass

          500,000,

          ?Linear TOF

          離子源與檢測器之間有 1.2 m是自由空間

          適合高分子量物質(zhì)如蛋白質(zhì)或高分子

          所有離子從加速後都被偵測

          可以測到m/z 500,000

          幾乎大分子物質(zhì)都可用Spiral Mass

        解析度

        60,000 (ACTH fragment 1-17?M+H?+: m/z 2093.1)

        質(zhì)量解析度

        (internal reference)

        1 ppm (average error)

        質(zhì)量準確度

        (external reference)

        10 ppm (average error)

        靈敏度

        500 amol, S/N > 50

        with standard stainless steel plate

        雷射

        Wavelength 349 nm (maximum 250 Hz)

        應用領(lǐng)域

        蛋白質(zhì)

        高分子合成

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