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全自動探針臺

SemiProbe是美國一家**的專業(yè)探針臺研發(fā)與制造公司，擁有多項**技術(shù)，提供完整的所有探針測試的產(chǎn)品與解決方案。其產(chǎn)品包括全自動，半自動，手動探針臺，MEMS測試探針臺，雙面測試，超低溫，高真空探針臺等等。SemiProbe 設(shè)計制造創(chuàng)新性模組化探測檢測系統(tǒng)，客戶遍及世界各地，其中包括大專院校、政府科研實驗室、各類半導(dǎo)體制造公司、涉及微機械、納米技術(shù)、光電技術(shù)、光伏技術(shù)等領(lǐng)域，為科研以及制造提供經(jīng)濟(jì)高效、實用、擴展性強的探測系統(tǒng)。同時SemiProbe還為用戶提供強有力的技術(shù)支持，可針對用戶的具體應(yīng)用需求，定制相對應(yīng)的產(chǎn)品和技術(shù)方案。

我們有可以解決您所面臨問題的一套**的方案，PS4L 全自動探針臺是基于SemiProbe可適應(yīng)性機構(gòu)**研發(fā)的一套系統(tǒng)，與傳統(tǒng)檢測系統(tǒng)不同，PS4L 全自動探針臺所有的基礎(chǔ)組件：基座、平臺、夾具、顯微鏡裝置、顯微鏡移動、光學(xué)部件、操縱裝置等，都是可以更換的。這些特征使得PS4L 全自動探針臺可適應(yīng)不同應(yīng)用需求，并且成為節(jié)省經(jīng)費的**選擇。這種獨特的設(shè)計能夠準(zhǔn)確滿足客戶的要求，更重要的是，PS4L系統(tǒng)能夠進(jìn)行現(xiàn)場升級，以適應(yīng)環(huán)境測試條件的改變。PS4L系統(tǒng)的設(shè)計理念，與傳統(tǒng)檢測設(shè)備相比，能夠讓客戶節(jié)約更多時間，更多成本。

憑借60年的實踐經(jīng)驗，美國品牌SemiProbe可以迅速為您提供各種定制化方案，以解決不同的難題。我們的宗旨就是讓客戶使用*少的資金獲得**的技術(shù)、更及時的響應(yīng)市場需求。

SemiProbe產(chǎn)品的獨特優(yōu)點有：

1.SemiProbe****技術(shù)的模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計，可以使探針臺在一個基本平臺的基礎(chǔ)上不斷的進(jìn)行升級，且升級可在客戶現(xiàn)場進(jìn)行，機臺不需返廠。其中PS4L系列產(chǎn)品，可以在PS4L基礎(chǔ)平臺上，由手動探針臺升級為半自動探針臺，半自動探針臺升級為全自動探針臺，或者由6''升級為8''，8''升級為12''，增加密閉測試倉，增加高低溫等等。這些獨特的優(yōu)點，目前在業(yè)界獨此一家。

2.SemiProbe的產(chǎn)品，全部都在美國本土設(shè)計制造。

3.SemiProbe的另外一個優(yōu)點是直流探針座和RF探針座通用，用戶只要一種探針座，換上直流或RF探針，即可做不同的測試，既方便又節(jié)省成本。目前業(yè)界其他公司的產(chǎn)品，多數(shù)直流探針座和RF探針座是不一樣的，并且價格昂貴，無法通用。其超高精度的亞微米級探針座，保證了高端精密測試的需求。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1.可滿足**18英寸的晶圓基底的測試要求，并能兼容處理12/8/6/4英寸硅片及碎片。

2.主要應(yīng)用領(lǐng)域：器件性能、MEMS、光電子學(xué)、納米研究、光伏電池、失效分析及材料等相關(guān)領(lǐng)域。

3.可做直流和微波測試。

4.系統(tǒng)可在客戶現(xiàn)場升級。

5.可增加高低溫及屏蔽系統(tǒng)

6.手動探針測試方式，扎針對準(zhǔn)方式靈活。

7.可方便搭載loadpull， 激光測振及電學(xué)信號測試等不同的外圍設(shè)備。

8.可搭載各種規(guī)格探卡。

9.主要部件可依據(jù)實際要求定制。

PS4L 全自動系統(tǒng)

1.可選尺寸：100 mm (FA-4)， 150 mm (FA-6)， 200 mm (FA-8)， 300 mm (FA-12)

2.模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計的硬件和軟件

3.所有的基礎(chǔ)組件：平臺，夾盤，光學(xué)組件和終端操縱裝置都是可以更換的。

4.可現(xiàn)場進(jìn)行升級

5.便攜式MHU—可移除，移動，對接到任何一臺PS4L半自動系統(tǒng)從而添加自動化功能

6.可選各種各樣全面化的光學(xué)附件和升級裝置

全自動4-12" DC-500GHZ/MEMS探針臺

晶圓尺寸：≤ 300mm

主要應(yīng)用：4－12寸、DC－500GHz、高真空／MEMS／大功率／光電等測試方案

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