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        博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀L系列
        博曼(Bowman)XRF鍍層測厚儀L系列

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        產(chǎn)地

        美國

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        暫無
        安柏來科學(xué)儀器(上海)有限公司

        會員

        |

        第2年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實

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        博曼L系列產(chǎn)品概述:

        L系列是博曼的通用機型。該系列將更大的樣品室和更大的XY平臺相結(jié)合。對于大的鍍件,L系列是必備品。大樣品臺和XY行程可實現(xiàn)大鍍件的多點測量。 封閉式樣品倉可容納12"x22"x24"(LxWxH)的樣品。XY平臺的行程為13"x10"

        標準配置包括一個4位置多準直器組件,以及一個可在凹陷區(qū)域進行測量的變焦相機。 與其他型號一樣,準直器尺寸和焦距可根據(jù)不同的客戶應(yīng)用進行定制。 包括可編程的XY平臺,為了滿足更大樣品測測量,XY平臺可以移除。探測器采用硅PIN半導(dǎo)體探測器,可升級為高性能SDD探測器。

        博曼L系列可滿足以下類型用戶的需求:

        - 樣品的長寬高分別超過12"但小于24"

        - 需容納多個樣品進行自動化多點測量

        - 可擴展到更大尺寸的樣品,用于未來的項目

        - 符合IPC-4552A

        博曼L系列產(chǎn)品參數(shù):

        類別

        參數(shù)

        元素測量范圍:

        X射線管:

        探測器:

        分析層數(shù)及元素數(shù):

        濾波器/準直器:

        焦距:

        數(shù)字脈沖器:

        計算機:

        相機:

        電源:

        重量:

        可編程XY平臺:

        樣品倉尺寸:

        外形尺寸:

        13號鋁元素到92號鈾元素

        50 W(50kV和1mA)微聚焦射線管

        190eV及以上分辨率的Si-PIN固態(tài)探測器

        5層,每層可分析10種元素,成分分析*多可分析25種元素

        4位置一次過濾器/4種規(guī)格準直器

        可變焦

        4096 多通道數(shù)字處理器,自動死時間和逃逸峰校正

        英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內(nèi)存, 微軟 Windows 10 專業(yè)版, 64位

        1 / 4"CMOS-1280×720 VGA分辨率

        150W,100-240V,頻率范圍為47Hz至63Hz

        110kg

        平臺尺寸:10"x 10"| 行程:10"x 10"

        高度:280mm(11"),寬度:550mm(22"),深度:600mm(24")

        高度:750mm(30"),寬度:700mm(28"),深度:750mm(30")

        關(guān)于美國博曼:

        美國博曼(Bowman)是高精度臺式鍍層測厚儀供應(yīng)商,擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測技術(shù)和先進的軟件系統(tǒng),可精準高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。博曼XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內(nèi)的五層元素,其中任何兩層元素可以是合金。同時,博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金(HEAs)。

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        10分

        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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