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        HORIBA研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀 UVISEL Plus
        HORIBA研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀 UVISEL Plus

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        UVISEL Plus

        品牌

        HORIBA

        產(chǎn)地

        上海

        樣本

        暫無(wú)
        HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

        白金會(huì)員

        |

        第18年

        |

        代表處

        工商已核實(shí)

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        核心參數(shù)
        • 誤差率:

          -
        • 分辨率:

          -
        • 重現(xiàn)性:

          -
        • 儀器原理:

          其他
        • 分散方式:

          -
        • 測(cè)量時(shí)間:

          -
        • 測(cè)量范圍:

          190-885 nm
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        儀器簡(jiǎn)介:
         橢圓偏振光譜是一種無(wú)損無(wú)接觸的光學(xué)測(cè)量技術(shù),基于測(cè)量線偏振光經(jīng)過(guò)薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過(guò)模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等,可測(cè)厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外,還可以測(cè)試材料的反射率及透過(guò)率。

         


        技術(shù)參數(shù):

               * 光譜范圍: 190-885 nm(可擴(kuò)展至2100nm
               * 
        微光斑可選50μm-100μm-1mm
               * 
        探測(cè)器:分別針對(duì)紫外,可見(jiàn)和近紅外提供優(yōu)化的PMTIGA探測(cè)器
               * 自動(dòng)樣品臺(tái)尺寸:多種樣品臺(tái)可選
               * 自動(dòng)量角器:變角范圍40° - 90°,全自動(dòng)調(diào)整,小步長(zhǎng)0.01°

        主要特點(diǎn):
               * 50KHz 高頻PEM 相調(diào)制技術(shù),測(cè)量光路中無(wú)運(yùn)動(dòng)部件
               * 具備超薄膜所需的測(cè)量精度,超厚膜所需的高光譜分辨率
               * 具有毫秒級(jí)超快動(dòng)態(tài)采集模式,可用于在線實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
               * 自動(dòng)平臺(tái)樣品掃描成像、變溫臺(tái)、電化學(xué)反應(yīng)池、液體池、密封池等多種附件
               * 配置靈活  


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        10分

        易用性

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        性?xún)r(jià)比

        10分
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