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        HORIBA 射頻輝光放電光譜儀GD Profiler 2
        HORIBA 射頻輝光放電光譜儀GD Profiler 2

        參考價(jià)格

        面議

        型號

        GD Profiler

        品牌

        HORIBA

        產(chǎn)地

        法國

        樣本

        暫無
        HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

        白金會(huì)員

        |

        第18年

        |

        代表處

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        光放電光譜儀是解密鍍層工藝、解析鍍層結(jié)構(gòu)的強(qiáng)有力手段,可以通過元素變化獲得鍍層結(jié)構(gòu)、層間擴(kuò)散、元素富集、表面處理、鍍層均一性等信息,從而改善工藝條件等。主要應(yīng)用行業(yè)有金屬冶金、半導(dǎo)體器件、LED芯片、薄膜太陽能電池、鋰電池陰陽、光學(xué)玻璃、核材料等。

        GD-Profiler 2 作為超快鍍層分析的理想工具,非常適合于導(dǎo)體和非導(dǎo)體復(fù)合鍍層的分析,操作簡單、便于維護(hù),是鍍層材料研發(fā)、質(zhì)控的理想工具。

        · 使用脈沖式射頻輝光源,可有效分析熱導(dǎo)性能差以及熱敏感的樣品。

        ·  采用多項(xiàng)技術(shù),如高動(dòng)態(tài)檢測器(HDD),可測試ppm-100%的濃度范圍,Polyscan多道掃描的光譜分辨率為18pm~25pm等。

        ·  分析速度快(2-10nm/s)

        技術(shù)參數(shù):

        1、射頻發(fā)生器-標(biāo)準(zhǔn)配置、復(fù)合D級標(biāo)準(zhǔn)、穩(wěn)定性高、濺射束斑為平坦、等離子體穩(wěn)定時(shí)間短,表面信息無任何失真。

        2、脈沖工作模式既可以分析常規(guī)的涂/鍍層和薄膜,也可以很好地分析熱導(dǎo)性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜。

        3、Polyscan多道(同時(shí))光譜儀可全譜覆蓋,光譜范圍從110nm-800nm,可測試遠(yuǎn)紫外元素C、H、O、N和Cl。

        4、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有大的光通量,因而擁有**的光效率和靈敏度。

        5、高動(dòng)態(tài)檢測器(HDD)可快速、高靈敏的檢測ppm-100%含量的元素。動(dòng)態(tài)范圍為5×1010。

        6、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。

        7、功能強(qiáng)大的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測報(bào)告。

        8、HORIBA獨(dú)有的單色儀(選配)可大地提高儀器靈活性,可實(shí)現(xiàn)固定通道外任意一個(gè)元素的同步測試,稱為n+1。

        9、適用于ISO14707和16962標(biāo)準(zhǔn)。

        儀器原理:

        輝光放電腔室內(nèi)充滿低壓氬氣,當(dāng)施加在放電兩的電壓達(dá)到一定值,超過激發(fā)氬氣所需的能量即可形成輝光放電,放電氣體離解為正電荷離子和自由電子。在電場的作用下,正電荷離子加速轟擊到(陰)樣品表面,產(chǎn)生陰濺射。在放電區(qū)域內(nèi),濺射的元素原子與電子相互碰撞被激化而發(fā)光。




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        性價(jià)比

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