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面議型號(hào)
SZ-100系列品牌
HORIBA產(chǎn)地
日本樣本
暫無誤差率：
-分辨率：
-重現(xiàn)性：
-儀器原理：
其他分散方式：
-測量時(shí)間：
2分鐘測量范圍：
0.3nm-8.0μm看了HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的用戶又看了
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SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質(zhì)方面是靈活的分析工具。根據(jù)不同的配置和應(yīng)用程序可以完成顆粒度的分析，zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測定。SZ-100的典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。
顆粒分析儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理（DLS）。根據(jù)樣品的物理性質(zhì)，動(dòng)態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響：樣品濃度、樣品對光的散射強(qiáng)度以及大的雜質(zhì)顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響，因?yàn)镈LS原理是顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)而不是重力沉降。
SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池，通過顆粒電泳遷移率的結(jié)果計(jì)算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個(gè)指標(biāo)。Zeta電位的數(shù)值較大表明顆粒帶電較多，斥力較大，較難發(fā)生團(tuán)聚，溶液保持穩(wěn)定。通常根據(jù)pH值或其他化學(xué)參數(shù)的改變檢測zeta電位以便于設(shè)計(jì)可長時(shí)間保存的產(chǎn)品。相反地，發(fā)現(xiàn)zeta電位為零時(shí)（就是說，樣品處于等電點(diǎn)），就要考慮選擇**條件將顆粒進(jìn)行絮凝和分離。
SZ-100還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。用戶準(zhǔn)備幾個(gè)已知濃度的溶液，然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線，從而計(jì)算出Mw和A2。
將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)的檢測集于一身
寬檢測范圍，寬濃度范圍
雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）
多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光
用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池
自動(dòng)滴定儀：可用于zeta電位測量過程中pH值的自動(dòng)滴定
測量范圍
顆粒直徑：0.3nm-8.0μm
測量精度
粒徑：按照ISO 13321/22412
可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒：100nm測量精度= +/- 2%
濃度
下限：0.1 mg/mL溶菌酶
上限：40 wt % （視樣品而定）
測量時(shí)間
粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設(shè)定)
樣品池
比色皿樣品池
取樣量
12μl ～ 4ml* （* 取樣量取決于樣品池容量。）
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測量范圍
測量時(shí)間
樣品池
取樣量
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測量范圍
樣品池
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電源：AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA 激光：二極管泵浦倍頻激光器 532 nm，10 mW I級 接口：USB 2.0，連接電腦與設(shè)備 外形尺寸：385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計(jì)凸起部分) 重量：25kg 控溫范圍：1-90℃，電極池和塑料池上限為70℃ 工作環(huán)境：15-35℃，相對濕度≤85%，無結(jié)露 冷凝控制：可連接吹掃氣 |
SZ-100采用動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)測量粒徑。樣品顆粒在池中做布朗運(yùn)動(dòng)。光源照入樣品池，散射光被90° 或173°檢測器采集（如下圖所示）。系統(tǒng)根據(jù)樣品濃度和光強(qiáng)自動(dòng)選擇**的散射角和樣品池位置。
請參見動(dòng)態(tài)光散射具體介紹
散射光信號(hào)進(jìn)入到一個(gè)多通道的相關(guān)器，生成自相關(guān)函數(shù)用以確定顆粒的多分散系數(shù)。然后用Stokes-Einstein方程式計(jì)算粒徑?？筛鶕?jù)樣品量和測量目的自定義樣品池。
zeta電位測量可使用一次性塑料電極樣品池。系統(tǒng)先測量樣品的電導(dǎo)率，施加一個(gè)電場，然后用電泳光散射測量粒子運(yùn)動(dòng)。電荷的正負(fù)決定著粒子的移動(dòng)方向，而移動(dòng)方向和移動(dòng)速度決定了電荷的數(shù)量級（zeta電位）。zeta電位的結(jié)果可用于衡量分散體系的穩(wěn)定性。
請參見Zeta 電位技術(shù)具體介紹
SZ-100通過對不同濃度樣品進(jìn)行靜態(tài)光散射測量計(jì)算出其**分子量值。通過德拜曲線及樣品濃度就可得出分子量和第二維利系數(shù)。
請參見分子量測量技術(shù)具體介紹
所有這些測量都通過菜單運(yùn)行，軟件操作簡單?？梢赃x擇合適的樣品進(jìn)行導(dǎo)航程序設(shè)定。初學(xué)者可以選擇默認(rèn)參數(shù)以得到好且高重現(xiàn)性的數(shù)據(jù)。對于清楚知道樣品分析的熟練者可在高級選項(xiàng)中進(jìn)行追加設(shè)置。
將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)的檢測集于一身
寬檢測范圍，寬濃度范圍
雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）
多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光
用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池
自動(dòng)滴定儀：可用于zeta電位測量過程中pH值的自動(dòng)滴定
2024 年 11 月 26 日，北京工業(yè)大學(xué)（簡稱：北工大）科學(xué)樓報(bào)告廳內(nèi)成功舉辦了“HORIBA 光工學(xué)子獎(jiǎng)”獎(jiǎng)學(xué)金頒獎(jiǎng)儀式，共有四位來自光學(xué)工程學(xué)科（簡稱：光工學(xué)科）的杰出學(xué)生獲此殊榮并接受了證
2024 年 11 月 29 日，隨著結(jié)業(yè)證書逐一頒發(fā)到學(xué)員手中，HORIBA 2024 年度用戶培訓(xùn)班畫上了圓滿的句號(hào)。用戶培訓(xùn)班作為客戶服務(wù)的重要一環(huán)，不僅彰顯了 HORIBA 對高質(zhì)量培訓(xùn)的堅(jiān)定
2024 年 11 月 22 日，在 HORIBA 厚立方（C-CUBE）三樓的生產(chǎn)基地，首臺(tái)本地化拉曼光譜儀正式發(fā)布并舉辦發(fā)布儀式。這標(biāo)志著繼流量計(jì)、傳動(dòng)系測試臺(tái)架及大氣污染源在線監(jiān)測系統(tǒng)等產(chǎn)品，
隨著全球范圍內(nèi)對二氧化碳排放的限制不斷收緊，零排放且能實(shí)現(xiàn)氫能高效循環(huán)利用的燃料電池，憑借其顯著優(yōu)勢，正快速嶄露頭角，成為推動(dòng)清潔、可持續(xù)能源發(fā)展的關(guān)鍵驅(qū)動(dòng)力。在此背景下，催化劑涂層（CCM）作為燃料
困擾研究者的難題非規(guī)則球體的碳納米管和石墨烯、高濃度的漿料、含有雜質(zhì)或聚集態(tài)的多分散材料，其粒徑分析一直是困擾研究者的難題。為了解決諸如此類材料的粒度表征問題，各類粒徑分析手段層出不窮，但各自的局限性
隨著國慶長假的臨近，大家都充滿了對歡樂假期的憧憬。但在計(jì)劃假期的同時(shí)，也別忽視了實(shí)驗(yàn)室“好搭檔”——科學(xué)儀器，它們同樣需要一份周到的“休假”計(jì)劃。為此，我們精心準(zhǔn)備了這份關(guān)機(jī)指南，幫助您確保實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的工作原理介紹？HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的使用方法？HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列多少錢一臺(tái)？HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列使用的注意事項(xiàng)HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的說明書有嗎？HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的操作規(guī)程有嗎？HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列有現(xiàn)貨嗎？HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列包安裝嗎？
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