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            HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列
            HORIBA納米顆粒分析儀SZ-100系列

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            型號

            SZ-100系列

            品牌

            HORIBA

            產地

            日本

            樣本

            暫無
            HORIBA科學儀器事業(yè)部

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            • 重現性:

              -
            • 儀器原理:

              其他
            • 分散方式:

              -
            • 測量時間:

              2分鐘
            • 測量范圍:

              0.3nm-8.0μm
            • 誤差率:

              -
            • 分辨率:

              -
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            SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定。SZ-100的典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。

            顆粒分析儀采用動態(tài)光散射原理(DLS)。根據樣品的物理性質,動態(tài)測量范圍為0.3 nm – 8 μm。檢測范圍的下限受到以下因素的影響:樣品濃度、樣品對光的散射強度以及大的雜質顆粒的存在。檢測上限受樣品濃度影響,因為DLS原理是顆粒的布朗運動而不是重力沉降。

            SZ-100以顆粒表面電荷特性來檢測懸浮液的zeta電位。將樣品注入一次性樣品池,通過顆粒電泳遷移率的結果計算zeta電位。 zeta電位通常是樣品分散穩(wěn)定性的一個指標。Zeta電位的數值較大表明顆粒帶電較多,斥力較大,較難發(fā)生團聚,溶液保持穩(wěn)定。通常根據pH值或其他化學參數的改變檢測zeta電位以便于設計可長時間保存的產品。相反地,發(fā)現zeta電位為零時(就是說,樣品處于等電點),就要考慮選擇**條件將顆粒進行絮凝和分離。

            SZ-100還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統(tǒng)的靜態(tài)光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2

            特征

            • 將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身

            • 寬檢測范圍,寬濃度范圍

            • 雙光路雙角度粒徑測量(90° 和173°)

            • 多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

            • 用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

            • 自動滴定儀:可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定

            測量范圍

            • 顆粒直徑:0.3nm-8.0μm


            測量精度

            • 粒徑:按照ISO 13321/22412

              • 可溯源的NIST聚苯乙烯乳膠顆粒:100nm測量精度= +/- 2%

            濃度

            • 下限:0.1 mg/mL溶菌酶

            • 上限:40 wt % (視樣品而定)

            測量時間

            • 粒徑分析一般需大約2分鐘(可自行設定)

            樣品池

            •  比色皿樣品池

            取樣量

              • 12μl ~ 4ml* (* 取樣量取決于樣品池容量。)


            Zeta電位:激光多普勒法

            測量范圍

            • -200 – +200mV


            測量時間

              • 一般需大約2分鐘

            樣品池

            •  專用一次性樣品池

            取樣量

              • ~100μl,一次性樣品池

            分子量:靜態(tài)光散射德拜曲線法

            測量范圍

            •  Mw: 1×103 - 2×107 g/mol

            樣品池

            •  比色皿樣品池

            物理參數

            電源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

            激光:二極管泵浦倍頻激光器 532 nm,10 mW I級

            接口:USB 2.0,連接電腦與設備

            外形尺寸:385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不計凸起部分)

            重量:25kg

            控溫范圍:1-90℃,電極池和塑料池上限為70℃

            工作環(huán)境:15-35℃,相對濕度≤85%,無結露

            冷凝控制:可連接吹掃氣

            測量技術

            SZ-100采用動態(tài)光散射技術測量粒徑。樣品顆粒在池中做布朗運動。光源照入樣品池,散射光被90° 或173°檢測器采集(如下圖所示)。系統(tǒng)根據樣品濃度和光強自動選擇**的散射角和樣品池位置。

            請參見動態(tài)光散射具體介紹

            散射光信號進入到一個多通道的相關器,生成自相關函數用以確定顆粒的多分散系數。然后用Stokes-Einstein方程式計算粒徑。可根據樣品量和測量目的自定義樣品池。

            zeta電位測量可使用一次性塑料電極樣品池。系統(tǒng)先測量樣品的電導率,施加一個電場,然后用電泳光散射測量粒子運動。電荷的正負決定著粒子的移動方向,而移動方向和移動速度決定了電荷的數量級(zeta電位)。zeta電位的結果可用于衡量分散體系的穩(wěn)定性。

            請參見Zeta 電位技術具體介紹

            SZ-100通過對不同濃度樣品進行靜態(tài)光散射測量計算出其**分子量值。通過德拜曲線及樣品濃度就可得出分子量和第二維利系數。

            請參見分子量測量技術具體介紹

            所有這些測量都通過菜單運行,軟件操作簡單??梢赃x擇合適的樣品進行導航程序設定。初學者可以選擇默認參數以得到好且高重現性的數據。對于清楚知道樣品分析的熟練者可在高級選項中進行追加設置。


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            將粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數的檢測集于一身

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            多重粒徑測量模式用于小顆粒和微弱散射光

            用于粒徑和zeta電位檢測的微量樣品池

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