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SZ-100 V2品牌
HORIBA產(chǎn)地
上海樣本
暫無誤差率：
-分辨率：
-重現(xiàn)性：
-儀器原理：
動態(tài)光散射分散方式：
-測量時間：
-測量范圍：
-500 mV ～ +500 mV看了HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2的用戶又看了
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SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測定；還可以用于檢測蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。
SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。
· 同臺儀器可測三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)
· 寬檢測范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%
· 自動滴定儀——可用于zeta電位測量過程中pH值的自動滴定
· 軟件操作簡單功能強(qiáng)大，一鍵測量
· 雙光路雙角度粒徑測量（90° 和173°）
· 采用微量樣品池
粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）
粒徑測定范圍：0.3nm ～10μm
粒徑測量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）
Zeta 電位測量原理：激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍：-500 mV ～ +500 mV
分子量測量原理：Debye plot
分子量測量范圍：1000 ～ 2×107 Da
測量角度：90° 和173°（可自動或手動選擇）
樣品量：12μL ～ 1000μL
暫無數(shù)據(jù)！
2024 年 11 月 26 日，北京工業(yè)大學(xué)（簡稱：北工大）科學(xué)樓報(bào)告廳內(nèi)成功舉辦了“HORIBA 光工學(xué)子獎”獎學(xué)金頒獎儀式，共有四位來自光學(xué)工程學(xué)科（簡稱：光工學(xué)科）的杰出學(xué)生獲此殊榮并接受了證
2024 年 11 月 29 日，隨著結(jié)業(yè)證書逐一頒發(fā)到學(xué)員手中，HORIBA 2024 年度用戶培訓(xùn)班畫上了圓滿的句號。用戶培訓(xùn)班作為客戶服務(wù)的重要一環(huán)，不僅彰顯了 HORIBA 對高質(zhì)量培訓(xùn)的堅(jiān)定
2024 年 11 月 22 日，在 HORIBA 厚立方（C-CUBE）三樓的生產(chǎn)基地，首臺本地化拉曼光譜儀正式發(fā)布并舉辦發(fā)布儀式。這標(biāo)志著繼流量計(jì)、傳動系測試臺架及大氣污染源在線監(jiān)測系統(tǒng)等產(chǎn)品，
隨著全球范圍內(nèi)對二氧化碳排放的限制不斷收緊，零排放且能實(shí)現(xiàn)氫能高效循環(huán)利用的燃料電池，憑借其顯著優(yōu)勢，正快速嶄露頭角，成為推動清潔、可持續(xù)能源發(fā)展的關(guān)鍵驅(qū)動力。在此背景下，催化劑涂層（CCM）作為燃料
困擾研究者的難題非規(guī)則球體的碳納米管和石墨烯、高濃度的漿料、含有雜質(zhì)或聚集態(tài)的多分散材料，其粒徑分析一直是困擾研究者的難題。為了解決諸如此類材料的粒度表征問題，各類粒徑分析手段層出不窮，但各自的局限性
隨著國慶長假的臨近，大家都充滿了對歡樂假期的憧憬。但在計(jì)劃假期的同時，也別忽視了實(shí)驗(yàn)室“好搭檔”——科學(xué)儀器，它們同樣需要一份周到的“休假”計(jì)劃。為此，我們精心準(zhǔn)備了這份關(guān)機(jī)指南，幫助您確保實(shí)驗(yàn)室設(shè)備
HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2的工作原理介紹？HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2的使用方法？HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2多少錢一臺？HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2使用的注意事項(xiàng)HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2的說明書有嗎？HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2的操作規(guī)程有嗎？HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2的報(bào)價含票含運(yùn)費(fèi)嗎？HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2有現(xiàn)貨嗎？HORIBA納米顆粒分析儀 SZ-100 V2包安裝嗎？
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