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布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)PI 88圖片
本圖片來自布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）提供的布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)PI 88，型號為的比表面積測定儀，產(chǎn)地為美國，屬于品牌，參考價格為面議，公司還可為用戶供應(yīng)高品質(zhì)的布魯克透射電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng)PI 95、場掃描共聚焦成像系統(tǒng)BrukerOpterra II等產(chǎn)品。布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）是中國粉體網(wǎng)的會員，合作關(guān)系長達2年，工商信息已通過人工核驗，獲得粉享通誠信認證，請放心選擇！
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布魯克納米表面儀器部（Bruker Nano Surfaces）
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