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            探針式表面輪廓儀DektakXT
            探針式表面輪廓儀DektakXT

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            產(chǎn)地

            美國

            樣本

            暫無
            布魯克納米表面儀器部(Bruker Nano Surfaces)

            會(huì)員

            |

            第2年

            |

            生產(chǎn)商

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            布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì),可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測量重復(fù)性可以達(dá)到5Å。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰,更加鞏固了其行業(yè)**地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量,通過在研究工作中的廣泛使用,DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡易,檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測量成為可能,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件,半導(dǎo)體,電池,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

            DektakXT **設(shè)計(jì)
            探針系統(tǒng)的評價(jià)體系受三個(gè)因素影響:能否重復(fù)測量,數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢,操作的難易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和**軟件來實(shí)現(xiàn)可重復(fù)、時(shí)間短、易操作這三個(gè)必要因素,達(dá)到**的儀器使用效果。
            強(qiáng)化操作的可重復(fù)性 Delivering Repeatable Measurements
            DektakXT在設(shè)計(jì)上的幾個(gè)提高,使其在測量臺(tái)階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn),臺(tái)階高度重復(fù)性可以到達(dá)5Å.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計(jì)更堅(jiān)硬持久不易彎曲損壞,而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動(dòng)噪音對測量信號的影響。同時(shí),Bruker還對儀器的智能化電子器件進(jìn)行完善,提高其穩(wěn)定性,降低溫度變化對它的影響,并采用先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會(huì)把可能引起誤差的噪音降到*低,DektakXT的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實(shí)現(xiàn)對高度小于10nm的臺(tái)階的掃描。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用,大大降低了掃描臺(tái)的噪音,增強(qiáng)了穩(wěn)定性,使其成為一個(gè)**競爭力的臺(tái)階儀(表面輪廓儀)。
            提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis

            利用獨(dú)特的直接掃描平臺(tái),DektakXT通過減少從得到原始數(shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時(shí)間,來提高掃描效率。這一改進(jìn),大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下,可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有***直觀的用戶界面,簡化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置,可以自動(dòng)完成多掃描模式,使很多枯燥繁復(fù)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡潔。

            完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand Analysis

            與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上*實(shí)用簡潔的用戶界面,具備智能結(jié)構(gòu),可視化的使用流程,以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求,快速簡便的實(shí)現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。

            DektakXT 技術(shù)參數(shù)

            —臺(tái)階高度重復(fù)性5Å
            —Single-arch設(shè)計(jì)大大提高了掃描穩(wěn)定性
            —前置敏化器件,降低了噪音對測量的干擾
            —新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%
            —64-bit,這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件,使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。
            功能**,操作簡易
            —直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行
            —針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事
            臺(tái)階儀(表面輪廓儀)領(lǐng)域無可撼動(dòng)的****地位
            —布魯克的臺(tái)階儀,體積輕巧,功能強(qiáng)大。

            —單傳感器設(shè)計(jì)提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍

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