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            快速掃描納米紅外光譜Anasys nanoIR2-FS
            快速掃描納米紅外光譜Anasys nanoIR2-FS

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            布魯克納米表面儀器部(Bruker Nano Surfaces)

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            第2年

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            納米紅外光譜系統(tǒng)(nanoIR系列)是美國(guó)Anasys儀器公司于2010年研發(fā)的基于原子力顯微鏡(AFM)的材料表征工具。其采用獨(dú)有**的光熱誘導(dǎo)共振技術(shù)(PTIR,也稱(chēng)AFM-IR),使紅外光譜的空間分辨率突破了光學(xué)衍射極限,提高至10納米級(jí)別。在得到微區(qū)形貌,表面物理性能的基礎(chǔ)上,進(jìn)一步幫助研究人員全面解析樣品表面納米尺度的化學(xué)信息。

            Anasys開(kāi)創(chuàng)了納米紅外化學(xué)解析的新領(lǐng)域,由于超高空間分辨率的紅外光譜采集和化學(xué)成分成像,被公認(rèn)為近十來(lái)年光譜領(lǐng)域**的技術(shù)進(jìn)步。該技術(shù)曾榮獲2010年度美國(guó)R&D100大獎(jiǎng)。2016年Anasys發(fā)布了**一代產(chǎn)品nanoIR2-FS,在廣受歡迎的第二代納米紅外光譜系統(tǒng)的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)快速掃描功能,光譜采集速度<3s>

            快速掃描納米紅外光譜(nanoIR2-FS)

            —納米尺度紅外光譜解決方案

            NanoIR系列包含有一個(gè)原子力顯微鏡用于探測(cè)形貌及成像,除此之外,采用一個(gè)可調(diào)脈沖激光源照射樣品,利用AFM針尖在納米尺度下探測(cè)輻射吸收,獲得納米尺度紅外光譜,特定波長(zhǎng)下的掃描成像圖為用戶(hù)提供超高分辨率的組分分布。

            NanoIR應(yīng)用廣泛,如聚合物共混物、薄至單層的薄膜、界面和表面、電紡纖維、細(xì)胞、細(xì)菌、淀粉質(zhì)物質(zhì)、半導(dǎo)體表面有機(jī)污染物等。

            主要特點(diǎn):

            • 消除分析化學(xué)研究人員的擔(dān)憂(yōu)--與FTIR光譜完全吻合,沒(méi)有吸收峰的任何偏移

            • 基于**保護(hù)的脈沖共振增強(qiáng)技術(shù):實(shí)現(xiàn)單分子層超薄樣品化學(xué)分析

            • **技術(shù)實(shí)現(xiàn)智能的光路優(yōu)化調(diào)整,無(wú)需擔(dān)心光路偏差拖延你的實(shí)驗(yàn)進(jìn)度

            • *準(zhǔn)確的定性微區(qū)化學(xué)表征,得到美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局NIST, 橡樹(shù)嶺國(guó)家實(shí)驗(yàn)室等美國(guó)權(quán)威機(jī)構(gòu)的認(rèn)可

            • 簡(jiǎn)單易用的操作,被三十多位企業(yè)用戶(hù)和近百位學(xué)術(shù)界所選擇

            • 基于DI傳承的多功能AFM實(shí)現(xiàn)納米熱學(xué),力學(xué),電學(xué)和磁學(xué)測(cè)量:

            • 納米熱分析模塊(nanoTA, SThM)

            • 洛侖茲接觸共振模塊(LCR)

            • 導(dǎo)電原子力顯微鏡鏡(CAFM)

            • 開(kāi)爾文電勢(shì)顯微鏡(KPFM)

            • 磁力顯微鏡(MFM)

            • 靜電力顯微鏡(EFM)

            AFM-IR技術(shù):

            圖1 工作原理

            nanoIR2-FS使用連續(xù)可調(diào)脈沖紅外光源從側(cè)面照射樣品。樣品吸收特定波長(zhǎng)的輻射波,產(chǎn)生熱量引發(fā)樣品快速熱膨脹,從而使AFM微懸臂產(chǎn)生共振震蕩。震蕩波以鈴流的形式衰減。用傅里葉變換對(duì)鈴流信號(hào)進(jìn)行分析,獲得振動(dòng)的振幅和頻率。通過(guò)建立微懸臂的振幅與光源波長(zhǎng)的關(guān)系可得到局部吸收光譜(見(jiàn)圖1)。AFM-IR光譜與傳統(tǒng)FTIR光譜高度吻合,可使用傳統(tǒng)的FTIR數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行分析(見(jiàn)圖2)。

            圖2 聚苯乙烯的nanoIR譜圖與FTIR譜圖的對(duì)比

            典型應(yīng)用案例:

            金基底上自組裝的PEG單分子層的納米化學(xué)研究

            圖3左上圖為AFM形貌圖,右上圖為在1340cm-1下的紅外吸收化學(xué)成像,可觀察到幾十納米分辨率的化學(xué)組分分布。 下圖為AFM-IR光譜。

            圖3 金基底上自組裝的PEG單分子層的納米化學(xué)研究

            高分子共混物的化學(xué)組分研究

            利用納米紅外AFM-IR對(duì)高抗沖聚丙烯共聚物(HIPP)三種不同微區(qū)組分進(jìn)行成分鑒定和定量分析,1378cm-1處紅外成像 (圖4 c)顯示橡膠粒子的硬核區(qū)域具有更強(qiáng)的紅外吸收,表明其主要成分是聚丙烯,這是**次獲得聚丙烯是一些HIPP體系中橡膠粒子硬核的主要成分的直接證據(jù)。利用AFM-IR光譜和FTIR光譜的高度一致性,使用常規(guī)FTIR用標(biāo)準(zhǔn)的乙丙共聚、共混標(biāo)樣制作工作曲線(xiàn),利用AFM-IR光譜對(duì)三種不同微區(qū)的組分進(jìn)行定量分析。

            Analysis of Nanodomain Composition in High-Impact Polypropylene by Atomic Force Microscopy-Infrared. Anal. Chem. 2016, 88, 4926?4930

            圖4高抗沖聚丙烯共聚物(HIPP)三種不同微區(qū)組分的研究

            a HIPP結(jié)構(gòu)示意圖,b AFM形貌圖, c 1378cm-1處紅外成像, d 三個(gè)不同微區(qū)的AFM-IR光譜, e 利用FTIR制作定量分析的工作曲線(xiàn), f 利用AFM-IR光譜和e工作曲線(xiàn)計(jì)算得到三個(gè)微區(qū)PE的含量

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