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            美國PSS Nicomp Z3000 納米粒度儀及Zeta電位儀
            美國PSS Nicomp Z3000 納米粒度儀及Zeta電位儀

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            型號

            Nicomp 380 Z3000

            品牌

            美國PSS

            產地

            美國

            樣本

            暫無
            上海奧法美嘉生物科技有限公司

            鉆石會員

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            第18年

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            • 誤差率:

              1%
            • 分辨率:

              1024個數(shù)據(jù)通道
            • 重現(xiàn)性:

              >99%
            • 儀器原理:

              動態(tài)光散射
            • 分散方式:

              濕法分散
            • 測量時間:

              1min-10min
            • 測量范圍:

              0.3nm-10μm
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            Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 
            專為復雜體系提供高精度粒度解析方案
            基本信息


            儀器型號:Z3000 

            工作原理:

            粒度分布:動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

            ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

            檢測范圍: 

            粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

            ZETA電位 +/- 500mV

               

            Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經典型號380ZLS&S基礎上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場適應不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。

            技術優(yōu)勢


            1、APD&PMT雙檢測器;

            2、多角度檢測(multi angle)模塊;

            3、可搭配不同功率光源;

            4、雙列直插式電極和樣品池,可反復使用成千上萬次;

            5、鈀電極;

            6、精確度高,*接近樣品真實值;

            7、復合型算法:

             高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

             相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

            8、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);

            9、結果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

            10、符合USP,CP等個多藥典要求;

            11、無需校準;

            12、復合型算法:

            (1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換

            10、模塊化設計便于維護和升級;

            (1)可自動稀釋模塊;

            (2)搭配多角度檢測器;

            (3)自動進樣系統(tǒng)(選配);


            380/MA多角度檢測器


            粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長0.7°的多角度測角器,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,通過調節(jié)角度進行檢測,改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。


            Nicomp多峰分布概念


                  基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨有的兩個主要特點,Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,這和實踐生產生活中不相符,因為現(xiàn)實中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點都制約了納米粒度儀在實際生產生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。



            圖一:Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)


                  如圖一:此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測其血液所得的真實案例。其檢測項目為:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由圖中可以看出,其血液中三個組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可見,Nicomp分布模式可以有效反應多組分體系的粒徑分布。



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