參考價(jià)格
面議型號(hào)
Nanotrac wave II品牌
麥奇克/Microtrac產(chǎn)地
美國(guó)樣本
暫無(wú)誤差率：
≤1%分辨率：
重現(xiàn)性：
誤差≤1%儀器原理：
動(dòng)態(tài)光散射分散方式：
背散射測(cè)量時(shí)間：
30-120秒測(cè)量范圍：
0.3nm-10μm看了納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的用戶又看了
留言詢價(jià)
電話詢價(jià)
虛擬號(hào)將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號(hào)
納米粒度測(cè)量——先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)
Zeta電位測(cè)量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見(jiàn)解，經(jīng)過(guò)多年的市場(chǎng)調(diào)研和潛心研究，開(kāi)發(fā)出新一代NANOTRAC WAVE II微電場(chǎng)分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測(cè)量于一體，無(wú)需傳統(tǒng)的比色皿，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比，NANOTRAC WAVE II采用先進(jìn)的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)，配置膜電極產(chǎn)生微電場(chǎng)，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量迅速，無(wú)需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無(wú)需外加大功率電場(chǎng)，無(wú)需更換分別用于測(cè)量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質(zhì)的影響，顆粒間多重散射等）帶來(lái)的光學(xué)信號(hào)的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠，重現(xiàn)性好。
測(cè)量原理：
粒度測(cè)量：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
Zeta電位測(cè)量：膜電極設(shè)計(jì)與“Y”型探頭形成微電場(chǎng)測(cè)量電泳遷移率
分子量測(cè)量：水力直徑或德拜曲線
光學(xué)系統(tǒng)：
3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過(guò)梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號(hào)，無(wú)需校正光路
軟件系統(tǒng)：
先進(jìn)的FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個(gè)性化輸出報(bào)告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù)，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數(shù)量，面積及光強(qiáng)分布，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護(hù)，電子簽名和指定授權(quán)等。
外部環(huán)境：
電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
環(huán)境要求：溫度，10-35°C
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點(diǎn)：
? 采用先進(jìn)的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
? “Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過(guò)藍(lán)寶石測(cè)量窗口，直接測(cè)量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對(duì)應(yīng)產(chǎn)生微電場(chǎng)，測(cè)量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度變化。
? 異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號(hào)強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級(jí)，提高分析結(jié)果的可靠性。
? 可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。
? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測(cè)試的準(zhǔn)確性。
? 快速傅利葉變換算法（FFT，F(xiàn)ast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測(cè)系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時(shí)間。
? 膜電極設(shè)計(jì)，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)，能準(zhǔn)確測(cè)量顆粒電泳速度。
? 無(wú)需比色皿，毛細(xì)管電泳池或外加電極池，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
? 消除多種空間位阻對(duì)散射光信號(hào)的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來(lái)的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。
| 粒度分析范圍 | 0.3nm-10μm |
| 重現(xiàn)性 | 誤差≤1% |
| 濃度范圍 | 100ppb-40%w/v |
| 檢測(cè)角度 | 180° |
| 分析時(shí)間 | 30-120秒 |
| 準(zhǔn)確性 | 全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 |
| 測(cè)量精度 | 無(wú)需預(yù)選，依據(jù)實(shí)際測(cè)量結(jié)果，自動(dòng)生成單峰/多峰分布結(jié)果 |
| 理論設(shè)計(jì)溫度 | 0-90℃，可以進(jìn)行程序升溫或降溫 |
| 兼容性 | 水相和有機(jī)相 |
暫無(wú)數(shù)據(jù)！
Improve protein aggregate characterization in parenteral drug formulations優(yōu)化注射制劑中的蛋白質(zhì)聚集物表征 - 顆粒表征是許多
2019-04-24
摘要：以石斑魚(yú)為原料，使用Biochrom30+全自動(dòng)氨基酸自動(dòng)分析儀對(duì)其肌肉的氨基酸組成進(jìn)行分析。結(jié)果表明石斑魚(yú)肌肉中氨基酸總量的質(zhì)量百分比為17753.114mg/100g，必需氨基酸(不含色氨酸
2019-09-16
顆粒狀材料和精細(xì)粉體在工業(yè)上有著廣泛的應(yīng)用，為了控制和優(yōu)化加工方法，必須對(duì)這些材料進(jìn)行精確表征。表征方法既與顆粒的性質(zhì)（粒度、形態(tài)、化學(xué)成分等）有關(guān)，也與粉體的行為（流動(dòng)性、密度、共混穩(wěn)定性、靜電性能
2019-11-11
單抗SBP是目前國(guó)內(nèi)生物制品中申報(bào)臨床試驗(yàn)最多的品種，藥學(xué)研究證實(shí)與已上市RBP具有“質(zhì)量相似性”是其作為SBP開(kāi)發(fā)的先決條件，如果 SBP的產(chǎn)品質(zhì)量明顯區(qū)別于原研產(chǎn)品，可以作為藥學(xué)研究存在重大缺陷，
2020-03-12
Panalytical E3x能譜儀樣本 Particle Metrix 粒度及Zeta電位樣本 Biolin表/界面化學(xué)分析儀器 大昌華嘉綜合樣本 美國(guó)Rudolph密度儀&折光儀樣本 日本Bel比表面和孔隙分析儀/化學(xué)吸附儀樣本 美國(guó)Microtrac粒度分析儀樣本 英國(guó)Freeman Technology 多功能粉末流動(dòng)性測(cè)試儀樣本 
一年一度的“FFC中國(guó)功能性食品大會(huì)”匯聚業(yè)內(nèi)頂級(jí)專家、龍頭企業(yè)等千余位功能食品界代表，共議科技創(chuàng)新、產(chǎn)品創(chuàng)新，打造功能食品產(chǎn)業(yè)生態(tài)鏈，解決功能食品發(fā)展全過(guò)程問(wèn)題。具有我國(guó)功能食品產(chǎn)業(yè)發(fā)展風(fēng)向標(biāo)、信息
引 言X4 POSEIDON古希臘神話中，波塞冬手握三叉戟，劈開(kāi)驚濤駭浪，統(tǒng)御無(wú)垠海洋；如今，布魯克X4 Poseidon模塊化三維X射線顯微成像系統(tǒng)化身“微觀海神”，憑借超高分辨率、無(wú)損探測(cè)、自由進(jìn)
作為中國(guó)化妝品行業(yè)的年度技術(shù)盛會(huì)，內(nèi)容涉及政策法規(guī)、市場(chǎng)趨勢(shì)、皮膚臨床醫(yī)學(xué)、研發(fā)配方、醫(yī)美護(hù)膚、功效評(píng)價(jià)與檢測(cè)、原料創(chuàng)新技術(shù)及趨勢(shì)、彩妝創(chuàng)新、高?；A(chǔ)研究及成果轉(zhuǎn)化及相關(guān)延伸、跨界領(lǐng)域技術(shù)等。&nbs
納米氣泡是液體環(huán)境中完全由氣體組成的一類特殊的納米顆粒。目前的研究已證實(shí)，納米氣泡在環(huán)境保護(hù)、農(nóng)業(yè)種植養(yǎng)殖、工業(yè)清洗、醫(yī)美等領(lǐng)域有非常大的應(yīng)用潛力，相關(guān)行業(yè)的研究熱度也很高?？焖?、準(zhǔn)確、全面的納米氣泡
半導(dǎo)體行業(yè)中硅和其他晶圓的接觸角測(cè)量用于評(píng)估清潔度、表面處理均勻性和光刻膠粘附性。晶圓的直徑通常在4英寸至12英寸之間。理想情況下，晶圓上的接觸角測(cè)量可以通過(guò)自動(dòng)定位整個(gè)晶圓來(lái)完成，而無(wú)需用戶干預(yù)。對(duì)
作者：Susanna Laurén，Biolin Scientific水層破散測(cè)試是在工業(yè)環(huán)境中檢查表面清潔度的常用方法。測(cè)試的主要目的是評(píng)估表面是否為下一個(gè)工藝步驟做好了準(zhǔn)備，最典型的是涂層應(yīng)用。然
納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的工作原理介紹？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的使用方法？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II多少錢(qián)一臺(tái)？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II使用的注意事項(xiàng)納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的說(shuō)明書(shū)有嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的操作規(guī)程有嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II有現(xiàn)貨嗎？納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II包安裝嗎？
手機(jī)版：
工商已核實(shí)
