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        晶圓半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)設(shè)備--魔鏡系統(tǒng)
        晶圓半導(dǎo)體表面缺陷檢測(cè)設(shè)備--魔鏡系統(tǒng)

        參考價(jià)格

        面議

        型號(hào)

        晶圓表面缺陷檢測(cè)

        品牌

        產(chǎn)地

        浙江

        樣本

        暫無(wú)
        芯茂(嘉興)半導(dǎo)體科技有限公司

        高級(jí)會(huì)員

        |

        第1年

        |

        生產(chǎn)商

        工商已核實(shí)

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        特長(zhǎng)
        1.所有的表面狀態(tài)都是即時(shí)的。
        2.我們的光學(xué)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)是1級(jí)的。
        3.光學(xué)系統(tǒng)是免維護(hù)的。
        4.根據(jù)檢查內(nèi)容,檢測(cè)靈敏度/檢測(cè)放大率可以進(jìn)行變更
        5.根據(jù)每個(gè)樣品和檢查位置定制**光學(xué)系統(tǒng)。


        產(chǎn)品詳情:

        設(shè)備概要
        1.利用魔鏡原理,觀察那些目視無(wú)法確認(rèn)的晶圓鏡面樣品表面上的micro缺陷。
        2.凹面缺陷則較為明亮、凸面缺陷則較為暗淡。通過(guò)明暗測(cè)定缺陷種類、缺陷位置、以及缺陷尺寸。
        3.可檢測(cè)晶圓表面的Dimples、凹凸、研削痕、研磨痕、滑移線、Edge缺陷、翹曲、變形等異常。

        設(shè)備用途
        . 切割,研削,研磨,拋光,外延及退火后硅片表面檢測(cè)(量產(chǎn)用)
        . SiC,GaN等化合物晶圓表面缺陷檢測(cè)
        . 藍(lán)寶石,水晶,玻璃晶圓的表面以及內(nèi)部缺陷檢測(cè)
        . 各工程的晶圓抽樣檢測(cè)用(線下用)

        設(shè)備特長(zhǎng)
        1.所有表面狀態(tài)均是瞬時(shí)檢測(cè)
        2.光學(xué)系統(tǒng)對(duì)應(yīng)1級(jí)光學(xué)系統(tǒng)
        3.光學(xué)系統(tǒng)免維護(hù)
        4.根據(jù)檢查內(nèi)容、檢測(cè)靈敏度、檢測(cè)放大率可進(jìn)行變更
        5.根據(jù)每個(gè)樣品和檢查位置定制**光學(xué)系統(tǒng)。

        自動(dòng)畫(huà)像解析功能
        可基于檢測(cè)前所設(shè)定的缺陷判斷臨界值,對(duì)自動(dòng)取得的圖像進(jìn)行畫(huà)像解析,缺陷種類判別,缺陷部位的可視化,位置坐標(biāo)算出、缺陷尺寸表示等工作。

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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價(jià)比

        10分
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