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美國(guó)樣本
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非接觸無(wú)損方塊電阻測(cè)試儀
產(chǎn)地:美國(guó)
原理和技術(shù):
非接觸方塊電阻測(cè)量?jī)x使用渦電流(Eddy Current)的測(cè)試原理。渦電流(也稱為感應(yīng)電流)可產(chǎn)生一個(gè)磁場(chǎng),當(dāng)磁場(chǎng)與導(dǎo)電材料接觸時(shí),會(huì)在材料中感應(yīng)到渦流。根據(jù)感應(yīng)渦流的電流大小,可以計(jì)算得到該材料的面電阻(方塊電阻)。
該技術(shù)的優(yōu)勢(shì):
是一種非接觸、無(wú)損的測(cè)量方式,不破壞材料;
可以測(cè)量密封在絕緣層內(nèi)的導(dǎo)電層;
每秒采樣次數(shù)高達(dá)數(shù)萬(wàn)次,測(cè)量速度快;
測(cè)量范圍:
配備不同的測(cè)試頭可以測(cè)量不同范圍的面電阻。
10X測(cè)試頭:5 ~ 100,000 (Ohms/sq) ;
1X測(cè)試頭:0.5 ~ 10,000(Ohms/sq) ;
0.1X測(cè)試頭:0.05 ~ 1,000(Ohms/sq);
0.01X測(cè)試頭:0.005 ~ 100(Ohms/sq);
應(yīng)用領(lǐng)域:
- 防靜電/導(dǎo)電薄膜;
- 天線;
- 汽車;
- 電池;
- 裝飾薄膜/紙張;
- 顯示器;
- 花線電路和柔性電路板;
- 電鍍;
- 玻璃窗;
- 金屬化電容用箔;
- 金屬化標(biāo)簽;
- 微波感應(yīng)器;
- 包裝;
- 雷達(dá)吸波材料;
- 反射和反光材料;
- 半導(dǎo)體;
- 太陽(yáng)能;
- 透明導(dǎo)電薄膜;
暫無(wú)數(shù)據(jù)!