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        濺射離子槍,等離子體發(fā)生源
        濺射離子槍,等離子體發(fā)生源

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        產(chǎn)地

        德國

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        暫無
        科睿設(shè)備有限公司

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        濺射離子槍主要用途:

        • 濺射清洗/表面科學(xué)中樣品表面處理, MBE and HV 濺射過程

        • 離子輔助沉積

        • 離子束濺射鍍膜

        • 反應(yīng)離子刻蝕

          技術(shù)指標:

          離子能量25eV - 5keV
          總的離子束電流1mA (at 5kV with Argon)

          High Current Version:up to 4mA (at 5kV with Argon)

          電流密度120μA/cm2 at 100mm working distance
          離子束發(fā)散角Ion energy dependant (typically 15°)
          工作距離100 mm (typically)
          等離子體杯Alumina (superior than other dielectric materials due to highest yield of secondary electrons)
          氣體進氣口徑CF-16 (1.33“OD)
          氣體流速1 - 5 sccm (1,5 sccm typical, gas dependant)
          工作真空度10-6mbar - 10-3mbar (1x10-5mbar typical in chamber with 300l/s pimp). Low 10-6mbar range possible - beam current then 140μA max.
          激發(fā)模式微波放電等離子體 (無燈絲)
          安裝口徑CF-35 (2.75“OD)
          槍直徑34mm (真空端)
          泄露閥需要氣體質(zhì)量流量計

        第二代等離子體源,可以提供離子源,原子源,離子/原子混合源

        原子源主要用途:

        制備氮化物,e.g. GaN, AlN, GaAsN, SiN etc.

        氫原子清洗,氫原子輔助MBE.

        制備氧化物,e.g. ZnO, Superconductors, Optical coatings, Dielectrics.

        摻雜, e.g. ZnSe

        離子源用途:

        離子束輔助沉積(IBAD) for both UHV and HV processes

        濺射沉積,雙離子束濺射,Sputter deposition and dual ion beam sputtering

        濺射清洗/表面科學(xué)中的樣品表面處理,Sputter cleaning / surface preparation in surface science, MBE and HV sputter processes.

        原位刻蝕,e.g. Chlorine

        技術(shù)參數(shù):

        Vacuum compatibility: Fully UHV compatible

        Bakeable: >200°C

        Microwave power: 250W max at 2.45GHz

        Magnet type: Permanent rare-earth. Removeable for bakeout without breaking vacuum

        Mounting: NW63CF (4.5"OD)

        In vacuum length: 300mm (custom lengths possible): In vacuum diameter max = 57mm

        Beam diameter: ~25mm at source (narrower beams also easily produced)

        Plasma cup: Alumina

        Aperture: Alumina or Boron Nitride

        Gas flow rate: 0.01-100sccm depending on aperture selected

        Working pressure: ~10-7 Torr to 5x10-3 Torr depending on aperture, pump and application - please contact tectra to discuss your application. Differential pumping option available

        Working Distance: 50mm-300mm. 150mm typical

        Cooling: Fully water-cooled (including magnetron)

        Power supplies:

        Microwave

        Grid supply*

        * Ion and Hybrid Source only

        19” rack mount. 3U height. 230VAC, 50Hz or 115VAC, 60Hz

        19” rack mount. 3U height. 230VAC, 50Hz or 115VAC, 60Hz

        主要特點:

        Key Features of the Plasma Source:

        Filamentless

        Suitable for use with most gases including reactive gases such as oxygen, chlorine, hydrogen, nitrogen etc.

        No microwave tuning

        Factory set. Simply turn the plasma on and off.

        User configurable

        The extraction optics are designed to be quickly and easily exchanged allowing users to customise their source to suit a particular combination of sample size, working pressure and current density. Easily exchanged apertures enable beam diameter, gas load and atom flux to be optimised.

        simple bakeout preparation

        new bakeable ECR magnets allow simple bekeout preparation by just undoing 4 screws. The magnets do not need to be removed but are still on the air side on a closed cooling loop. Hence no sintered material is exposed vacuum.

        Al2O3 plasma region

        Alumina plasma cup as standard with higher yield of secondary electrons, better resistance against aggressive gases such as Oxygen and ideal plasma striking capability

        compact

        the air side envilope sizes are brought to a minimum of just 258mm from flange (knife edge side) to case end

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        售后服務(wù)

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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