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場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro品牌
國儀量子產(chǎn)地
北京樣本
暫無探測器：
旁側(cè)二次電子探測器（ETD） 低真空二次電子探測器（LVD） 插入式背散射電子探測器（BSED）加速電壓：
200 V ~ 30 kV電子槍：
肖特基熱場發(fā)射電子槍電子光學(xué)放大：
1 ~ 1,000,000 x光學(xué)放大：
-分辨率：
0.9 nm @ 30 kV，SE看了場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro的用戶又看了
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SEM4000Pro是一款分析型熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡，配備了高亮度、長壽命的肖特基場發(fā)射電子槍。三級磁透鏡設(shè)計，束流**可達200 nA，在EDS、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢。標(biāo)配低真空模式，以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器，可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式，以及直觀的操作界面，讓您的分析工作倍感輕松。
01配備高亮度、長壽命的肖特基熱場發(fā)射電子槍
02分辨率高，30 kV 下優(yōu)于 0.9 nm 的極限分辨率
03三級磁透鏡設(shè)計，束流可調(diào)范圍大，**支持 200 nA 的分析束流
04無漏磁物鏡設(shè)計，可直接觀察磁性樣品
05標(biāo)配低真空模式，以及高性能的低真空二次電子探測器和插入式背散射電子探測器
06標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式，中文操作軟件，讓分析工作更輕松
應(yīng)用案例
產(chǎn)品參數(shù)
關(guān)鍵參數(shù) 高真空分辨率 0.9 nm @ 30 kV，SE 低真空分辨率 2.5 nm @ 30 kV，BSE，30 Pa 1.5 nm @ 30 kV, SE, 30 Pa 加速電壓 200 V ~ 30 kV 放大倍率 1 ~ 1,000,000 x 電子槍類型 肖特基熱場發(fā)射電子槍 樣品室 真空系統(tǒng) 全自動控制 低真空模式 **180 Pa 攝像頭 雙攝像頭 （光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉內(nèi)監(jiān)控） 行程 X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mm T: -10°~+70°，R: 360° 探測器和擴展 標(biāo)配 旁側(cè)二次電子探測器（ETD） 低真空二次電子探測器（LVD） 插入式背散射電子探測器（BSED） 選配 能譜儀（EDS） 背散射衍射（EBSD） 插入式掃描透射探測器（STEM） 樣品交換倉 軌跡球&旋鈕控制板 軟件 語言 中文 操作系統(tǒng) Windows 導(dǎo)航 光學(xué)導(dǎo)航、手勢快捷導(dǎo)航 自動功能 自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
暫無數(shù)據(jù)！
摘要：硬脂酸鎂是制藥界廣泛應(yīng)用的藥物輔料，因為具有良好的抗粘性、增流性和潤滑性在制劑生產(chǎn)中具有十分重要的作用，作為常用的藥用輔料潤滑劑，比表面積對硬脂酸鎂有很大的影響，硬脂酸鎂的比表面積越大，其極性越
2022-07-05
陶瓷材料具有高熔點、高硬度、高耐磨性、耐氧化等一系列特點，被廣泛應(yīng)用于電子工業(yè)、汽車工業(yè)、紡織、化工、航空航天等國民經(jīng)濟的各個領(lǐng)域。陶瓷材料的物理性能很大程度上取決于其微觀結(jié)構(gòu)，是掃描電鏡重要的應(yīng)用領(lǐng)
2022-09-27
助力“土壤三普” | 氣體吸附技術(shù)在土壤膠體表征中的應(yīng)用 有關(guān)吸附等溫線中的滯后環(huán) 有關(guān)分子篩結(jié)構(gòu) 淺析BET BJH孔徑分布計算模型 有關(guān)BET測試中的常見問題（三） 有關(guān)BET測試中的常見問題（二） 有關(guān)BET測試中的常見問題（一） 動、靜態(tài)吸附法比較 淺析吸附方式中的t-plot 
4月1日，由湖南大學(xué)分析測試中心與國儀量子聯(lián)合主辦，深圳速普儀器有限公司、長沙凱普樂科技有限責(zé)任公司協(xié)辦的“國儀電鏡論壇暨湖南大學(xué)電子顯微技術(shù)交流會”在湖南大學(xué)分析測試中心成功舉行。本次會議吸引了湖南
引言 為更好地激勵在科研領(lǐng)域辛勤探索、努力拼搏的科研工作者，同時助力光探測磁共振事業(yè)發(fā)展，國儀量子決定對使用本公司ODMR系列產(chǎn)品，發(fā)表高水平學(xué)術(shù)文章的科研工作者給予現(xiàn)金獎勵。2025年OD
國儀量子電鏡在芯片金屬柵極刻蝕殘留檢測的應(yīng)用報告一、背景介紹 在芯片制造工藝中，金屬柵極刻蝕是構(gòu)建晶體管關(guān)鍵結(jié)構(gòu)的重要環(huán)節(jié)。精確的刻蝕工藝能夠確保金屬柵極的尺寸精度和形狀完整性，對芯片的性能
國儀量子電鏡在芯片后道 Al 互連電遷移空洞檢測的應(yīng)用報告一、背景介紹 隨著芯片集成度不斷攀升，芯片后道 Al 互連技術(shù)成為確保信號傳輸與芯片功能實現(xiàn)的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。在芯片工作時，Al 互連導(dǎo)線
國儀量子電鏡在芯片鈍化層開裂失效分析的應(yīng)用報告一、背景介紹在半導(dǎo)體芯片制造領(lǐng)域，芯片鈍化層扮演著至關(guān)重要的角色。它作為芯片的 “防護鎧甲”，覆蓋在芯片表面，隔絕外界環(huán)境中的濕氣、雜質(zhì)以及機械應(yīng)力等不利
場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro的工作原理介紹？場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro的使用方法？場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro多少錢一臺？場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro使用的注意事項場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro的說明書有嗎？場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro的操作規(guī)程有嗎？場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro的報價含票含運費嗎？場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro有現(xiàn)貨嗎？場發(fā)射掃描電鏡 SEM4000Pro包安裝嗎？
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