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        Nicomp 380 Z3000 Basic納米粒徑與電位分析儀
        Nicomp 380 Z3000 Basic納米粒徑與電位分析儀

        參考價(jià)格

        面議

        型號

        Z3000 Basic

        品牌

        PSS

        產(chǎn)地

        美國

        樣本

        暫無
        美國PSS粒度儀公司

        高級會員

        |

        第5年

        |

        生產(chǎn)商

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        Nicomp 380 系列納米激光粒度儀 
        專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案
        基本信息

        儀器型號:Z3000 Basic

        工作原理:

        粒度分布:動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

        ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

        檢測范圍: 

        粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

        ZETA電位 +/- 500mV

           

        Nicomp 380 Z3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有**技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個(gè)電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。



        技術(shù)優(yōu)勢


        1、PMT高靈敏度檢測器;

        2、可搭配不同功率光源;

        3、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬次;

        4、鈀電極;

        5、精確度高,*接近樣品真實(shí)值;

        6、復(fù)合型算法:

         高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

         相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

        7、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);

        8、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

        9、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求;

        10、無需校準(zhǔn);

        11、復(fù)合型算法:

        (1)高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

        12、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級;

        (1)可自動稀釋模塊**(選配);

        (2)搭配多角度檢測器(選配);

        (3)自動進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);



        Nicomp多峰分布概念


              基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所獨(dú)有的兩個(gè)主要特點(diǎn),Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole很早就認(rèn)識到傳統(tǒng)的動態(tài)光散射理論僅給出高斯模式的粒度分布,這和實(shí)踐生產(chǎn)生活中不相符,因?yàn)楝F(xiàn)實(shí)中很多樣本是多分散體系,非單分散體系,而且高斯分布靈敏性不足,分辨率不高,這些特點(diǎn)都制約了納米粒度儀在實(shí)際生產(chǎn)生活中的使用。其開創(chuàng)性的開創(chuàng)了Nicomp多峰分布理論,大大提高了動態(tài)光散射理論的分辨率和靈敏性。


        圖一:Nicomp多分分布數(shù)據(jù)呈現(xiàn)


              如圖一:此數(shù)據(jù)為Nicomp創(chuàng)始人Dave Nicole親測其血液所得的真實(shí)案例。其檢測項(xiàng)目為:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,由圖中可以看出,其血液中三個(gè)組分的平均粒徑分別顯示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可見,Nicomp分布模式可以有效反應(yīng)多組分體系的粒徑分布。



        Nicomp多峰分布優(yōu)勢

               Nicomp系列儀器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切換。其不僅可以給出傳統(tǒng)的DLS系統(tǒng)的結(jié)果,更可以通過Nicomp多峰分布模式體現(xiàn)樣品的真實(shí)情況。依托于Nicomp系列儀器一系列優(yōu)異的算法和高靈敏性的硬件設(shè)計(jì),Nicomp納米激光粒度儀可以有效區(qū)分1:2的多分散體系。



        圖二:高斯分布及Nicomp多峰分布對比圖

              如圖二:此數(shù)據(jù)為檢測93nm和150nm的標(biāo)粒按照1:2的比例混合后所測得的數(shù)據(jù)。左邊為高斯分布(Gaussian)結(jié)果,右圖為Nicomp多峰分布算法結(jié)果,兩者都為光強(qiáng)徑數(shù)據(jù)。從高斯分布可以得到此混合標(biāo)粒的平均粒徑為110nm-120nm之間,卻無法得到實(shí)際的多組分體系結(jié)構(gòu)。從右側(cè)的Nicomp多峰分布可以得到結(jié)果為雙峰,即如數(shù)據(jù)呈現(xiàn),體系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近,這和實(shí)際情況相符。


              為滿足不同客戶的實(shí)際檢測需求,我司的Nicomp 380 N3000會配備相應(yīng)的配置,旨在為客戶們在控制成本的基礎(chǔ)上,得到需求的解決方案,達(dá)到收益**化。


        產(chǎn)品優(yōu)勢



        模塊化設(shè)計(jì)

              Nicomp 380納米激光粒度儀是全球率先在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級和增加,Nicomp 380的功能體系越來越強(qiáng)大,可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。


        自動稀釋模塊(選配)

              帶有**的自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差,且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度,這大大縮短了測試者寶貴時(shí)間,且無需培訓(xùn),測試結(jié)果重現(xiàn)性好,誤差率<1%。


        380/HPLD大功率激光器

              美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中,考慮到在各種極端實(shí)驗(yàn)測試條件中不同的需求,對不同使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號,使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布。同樣,大功率激光器在測試大粒子的時(shí)候同樣也很有幫助,比如在檢測右旋糖酐大分子時(shí),折射率的特性會引起光散射強(qiáng)度不足。                                    

              因?yàn)榇蠊β始す馄鞯奶匦?,會彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減,測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個(gè)苛刻的難題。即使沒有色譜分離,Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度。


        雪崩二極管 (APD)高靈敏度檢測器(選配)

              Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有3-5倍放大增益效果)。

              APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度,如蛋白質(zhì)、不溶性膠束、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán),他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低,這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成。APD外置了一個(gè)大功率激光發(fā)生器模塊,在非常短的時(shí)間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況。


        380/MA多角度檢測器(選配)

              粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個(gè)方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長0.7°的多角度測角器,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測,改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。


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