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        Nicomp Z3000 納米粒徑與Zeta電位分析儀
        Nicomp Z3000 納米粒徑與Zeta電位分析儀

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        面議

        型號

        PSS Nicomp Z3000 Standard

        品牌

        美國PSS

        產(chǎn)地

        美國

        樣本

        暫無
        美國PSS粒度儀公司

        高級會員

        |

        第5年

        |

        生產(chǎn)商

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        • 分辨率:

        • 重現(xiàn)性:

          ±99%
        • 儀器原理:

          動態(tài)光散射
        • 分散方式:

        • 測量時間:

          1-10min
        • 測量范圍:

          0.3nm-10um
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        Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀 專為復(fù)雜體系提供高精度粒度解析方案

        儀器型號:Z3000 Standard

        工作原理:

        粒度分布:動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)

        ZETA電位:多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)

        檢測范圍: 

        粒徑范圍 0.3nm-10.0μm

        ZETA電位 +/- 500mV

           

        NicompZ3000系列納米激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機(jī)采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯( Gaussian)單峰算法和擁有**技術(shù)的 Nicomp 多峰算法,對于多組分、粒徑分布不均勻分散體系的分析具有獨(dú)特優(yōu)勢。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。



        技術(shù)優(yōu)勢


        1、APD&PMT雙檢測器;

        2、多角度檢測(multi angle)模塊;

        3、可搭配不同功率光源;

        4、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬次;

        5、鈀電極;

        6、精確度高,*接近樣品真實(shí)值;

        7、復(fù)合型算法:

         高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

         相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換

        8、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);

        9、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);

        10、符合USP,CP等個多藥典要求;

        11、無需校準(zhǔn);

        12、復(fù)合型算法:

        (1)高斯(Gaussion)單峰算法與**的Nicomp多峰算法自由切換

        10、模塊化設(shè)計便于維護(hù)和升級;

        (1)可自動稀釋模塊**;

        (2)搭配多角度檢測器;

        (3)自動進(jìn)樣系統(tǒng)(選配);


        Snipaste_2019-11-29_10-13-52.png3000/MA多角度檢測器


        粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 3000可以配備范圍在10°-175,步長0.7°的多角度測角器,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測,改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。


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        10分

        性價比

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