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ZEM-3 Series可同時(shí)測(cè)量熱電材料的塞貝克系數(shù)和電導(dǎo)率；該系列設(shè)備具備精度高，易于使用等特點(diǎn)；熱電材料塞貝克系數(shù)的測(cè)量方法是基于JIS標(biāo)準(zhǔn)。
應(yīng)用：
評(píng)估半導(dǎo)體、陶瓷、金屬等材料的熱電性能。
特點(diǎn)：
1. 使用高精度的紅外金面反射爐和微加熱器進(jìn)行溫差控制；
2. 歐姆接觸V-I自檢系統(tǒng)；
3.測(cè)量由電腦控制，可以在指定的溫度和溫差系進(jìn)行測(cè)量，并消除黑暗電動(dòng)勢(shì)的影響。
設(shè)備型號(hào)：
型號(hào)： | ZEM-3L | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
測(cè)量?jī)?nèi)容： | 塞貝克系數(shù)、電導(dǎo)率 | ||
溫度范圍： | -80℃ to 100℃ | RT, 50 °C to 800 °C | RT, 50 °C to 1000 °C |
樣品尺寸： | 2 to 4 mm square or φ x 5 to 22 mm length | ||
測(cè)量氛圍： | 低壓He氣 | ||
可選配件： | 水冷循環(huán)系統(tǒng)； 熱電發(fā)電仿真軟件； 薄膜附件； | ||
測(cè)量實(shí)例 P型Si80Ge20 ：
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