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        蘇州晶格電子有限公司

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        M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格

        M-3方塊電阻儀ITO膜方阻儀晶格
        • 品牌:晶格電子
        • 產(chǎn)地:江蘇蘇州
        • 關(guān)注度:4846
        • 型號:M-3
        • 報價:3200元
        • 信息完整度:
        核心參數(shù)
        • 探測器:
        • 加速電壓:勻速
        • 電子槍:
        • 電子光學(xué)放大:
        • 光學(xué)放大:
        • 通道數(shù):
        • 誤差率:0.5%
        • 波長準(zhǔn)確度:
        • 靈敏度:
        • 分辨率:0.5%
        • 重現(xiàn)性:
        • 儀器原理:電阻式計數(shù)
        • 分散方式:
        • 測量時間:1年
        • 測量范圍:0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm
        產(chǎn)品介紹

        、結(jié)構(gòu)特征

        圖片1.jpg M3手持式四探針測試儀主機          配ST2253-F01鎢針探頭測試硅片                  配ST2558B-F01薄膜探頭測試ITO膜

         

        二、概述

        2.1基本功能和依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):

          M3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。

        該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》等國標(biāo)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

            2.2配套組成:標(biāo)準(zhǔn)配置由M-3型主機、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺當(dāng)臺式機使用。

        2.3優(yōu)勢特征:

        1美觀適用:彩色流線型手持式面板、帶防滑墊,符合人體工程學(xué)設(shè)計。適合手持式變動場合操作使用,也可以定制小型旅行手提箱包裝,便于野外或旅行使用。

        2高精度:帶完善厚度、形狀修正功能,測試準(zhǔn)確。同行中手持式多為簡易程序,沒有完整修正功能,無法修正誤差。

        3寬量程:超寬五個檔位,相當(dāng)于中檔臺式機的量程,同行中手持式多為兩到三個檔位,測試范圍有限,適應(yīng)性不廣。

        4操作簡便、性能穩(wěn)定:輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換,簡便而且免除模擬定位器的不穩(wěn)定易受干擾。

        5手動/自動一體化:

        6顯示方式美觀清晰:由高亮綠色數(shù)碼和LED數(shù)字表頭顯示,不怕環(huán)境背景暗或野外強光;

        7待機和工作時間長(不小于兩天),有大容量可充電鋰電池電池供電,環(huán)保耐用。

        2.4探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。詳情見《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》

        1配高耐磨的碳化鎢探針探頭,如ST2253-F01型,以測試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;

        2配不傷膜的球形或平頭鍍金銅合金探針探頭,如ST2558B-F01型,可測金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層電阻率/方阻。

        3配專用箔上涂層探頭,如ST2558B-F02型,也可測試鋰電池電池極片等箔上涂層電阻率/方阻。

        4換上四端子測試夾具,還可對電阻器的體電阻進行測量。

        2.5測試臺選配:根據(jù)不同材料特性需要,測試臺可有多款選配。詳情見《四探針測試臺型號規(guī)格特征選型參照表

        四探針法測試固體或薄膜材料選配SZT-A型或SZT-B型(電動)或SZT-C型(快速恒壓)測試臺。

        二探針法測試細長棒類材料選配SZT-K型測試臺.

        平行四刀法測試橡塑材料配SZT-G型測試臺。

        2.6適用范圍:手持式使用,儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校四探針法對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。 

        。

        三、基本技術(shù)參數(shù)

        1.測量范圍、分辨率

        電    阻:     0.010Ω~ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω~ 10 Ω

        電 阻 率:     0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω~ 10 Ω-cm

        方塊電阻:     0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω~ 10 Ω/□

        2.可測材料尺寸

        手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:

        直    徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。

        SZT-C方測試臺直接測試方式180mm×180mm。

        長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.

        測量方位: 軸向、徑向均可.

         

        3.量程劃分及誤差等級(括號內(nèi)為拓展量程)

        量程(Ω-cm/□)

        2.000

        (200.0m)

        20.00

        (2.000m)

        200.0

        (20.00)

        2.000k

        (200.0)

        20.00k

        (2.000k)

        電阻測試范圍

        0.010~2.200

        2.000~22.00

        20.00~220.0

        0.200~2.200k

        2.000~50.00k

        電阻率/方阻

        0.010/0.050~2.200

        2.000~22.00

        20.00~220.0

        0.200~2.200k

        2.000~20.00k/100.0k

        基本誤差

        ±1%FSB±2LSB

        ±2%FSB±2LSB

        4)充電器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電DC3.7V.

        5)外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

        凈   重:≤0.3kg

        注:該儀器未取得中華人民共和國醫(yī)療器械注冊證,不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途


        聯(lián)系人:王經(jīng)理

        聯(lián)系電話:13656 225155

        微信:13656 225155

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