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        大塚電子(蘇州)有限公司
        首頁 > 產品中心 > 光譜檢測分析儀 > 膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
        產品詳情
        膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
        膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列的圖片
        參考報價:
        面議
        品牌:
        大塚電子
        關注度:
        4616
        樣本:
        暫無
        型號:
        MCPD系列
        產地:
        江蘇
        信息完整度:
        典型用戶:
        暫無
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        高級會員 第 2
        名 稱:大塚電子(蘇州)有限公司
        認 證:工商信息已核實
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        品牌傳達企業(yè)理念
        產品簡介

        分光光譜儀種類

        • MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光

        • MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀

        • MCPD-7700:高感度分光

        膜厚測量

        半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜

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        膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

         半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。

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        影印機感光鼓膜厚度量測

        半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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        LB膜測量

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        蒸餾膜測量

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        多點膜厚測量

        • 半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

        • 光阻剝離液厚度、濕狀薄膜

        • 塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)

        • 樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜

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