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產品簡介
分光光譜儀種類
MCPD-9800:高動態(tài)范圍分光
MCPD-6800:紫外/可見/近紅外光分光光譜儀
MCPD-7700:高感度分光
膜厚測量
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜
膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能性薄膜、包裝膜。
影印機感光鼓膜厚度量測
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
LB膜測量
蒸餾膜測量
多點膜厚測量
半導體晶圓膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)
光阻剝離液厚度、濕狀薄膜
塗布膜(Coating膜、蒸鍍膜、接著劑、亞克力樹脂、光碟片膜層、薄膜磁頭)
樹脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、機能能性薄膜、包裝膜
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