精品国产午夜理论片不卡_99这里只有精品_黑人大战亚洲人精品一区_精品国产免费一区二区三区香蕉_99久久精品美女高潮喷水

MCPD series 薄膜在線測量設(shè)備是光學式測量系統(tǒng)，可以以非接觸和非破壞性的方式測量薄膜厚度、透過率、顏色等。

可測量的膜厚范圍為 65 nm 到 92 μm。（以折射率n=1.5換算）

采用分光干涉法測量原理，支持多層膜厚測量，同時實現(xiàn)高重復性精度。采用獨創(chuàng)的算法，可以高速實時監(jiān)控，非常適合于薄膜在線測量。

特  點

● 膜厚測量范圍 65 nm ~ 92 μm（SiO2換算）

多點測量點切換對應系統(tǒng)

導軌測量系統(tǒng)

在導軌測量系統(tǒng)中，通過導軌機構(gòu)驅(qū)動在TD方向掃描，以任意寬度和任意間距測量TD方向的膜厚分布。可以用作涂層的條件設(shè)置和運行時的實時監(jiān)控。

通過導軌機構(gòu)橫向移動進行多點測量，無需準備多個檢測器或數(shù)據(jù)處理單元。

真空環(huán)境下的多點反射 · 透過光譜測量

與各種法蘭兼容的耐真空光纖，可以在高真空下測量反射 · 透射光譜。此外，采用大塚電子獨創(chuàng)算法，不易受基膜上下移動的影響，高精度測量薄膜膜厚?？勺鳛閷崟r監(jiān)控使用。

MCPD-9800

※膜厚值以n=1.5換算。并與式樣相關(guān)。

MCPD-6800

※膜厚值以n=1.5換算。并與式樣相關(guān)。