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            Pentagon Qlll 表面微粒子計數(shù)器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um
            Pentagon Qlll 表面微粒子計數(shù)器表面塵埃粒子理化分析 儀 0.1-5um

            參考價格

            90-100萬元

            型號

            Pentagon Qlll

            品牌

            產(chǎn)地

            美國

            樣本

            暫無
            無錫佐藤精密儀器有限公司

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            快速測量表面顆粒

            可以幫忙控制機臺產(chǎn)品上的顆粒物從而提高產(chǎn)量

            通過快速識別粒子源,減少故障排除時間

            可以監(jiān)測物料,來料,以及Parts上的Particle

            減少PM的周期

            ?符合 ISO 14644-9表面粒子操作規(guī)范

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