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        菲希爾無損多層鍍層金鎳測厚儀
        菲希爾無損多層鍍層金鎳測厚儀

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        面議

        型號

        品牌

        產地

        德國

        樣本

        暫無
        廣東正業(yè)科技股份有限公司

        會員

        |

        第2年

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        菲希爾金鎳測厚儀,無損多層鍍層測厚儀

        金鎳測厚儀用途

        該設備適用于多層鍍層厚度測量及材料分析,可用來定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量,*多可同時測定24種元素,廣泛應用于電路板、半導體、電鍍、珠寶等工業(yè)中的功能性鍍層及電鍍槽液中的成分濃度分析。

        金鎳測厚儀特點:

        1、無論是鍍層厚度測量,還是鍍液分析,復雜的多鍍層應用,一個軟件程序就可以完成所有測量應用

        2、X射線管有帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管多種選擇

        3、X射線探測器PC(比例接收器)、PIN(硅PIN接收器)、SDD(硅漂移接收器)

        4、可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地應用不同測量。

        X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

        測量方向

        產品型號

        應用范圍

        檢測器

        射線管

        基本濾片

        準值器數量/尺寸(mm)

        C型開槽

        從下往上

        XUL

        一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的性價比高的儀器,它配備了一個固定的準值器和濾,射線管出射點稍大,非常適合測量點在1mm以上的應用。對于測量典型電鍍層厚度的應用,如Cr/Ni/Cu等,非常合適。

        PC

        標準

        1

        1(Φ0.3

        XULM

        多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層(如50nm Au100um Sn)都通過選擇好的高壓濾片組合很好的測量。微聚焦管可以達到在很短的測量距離內小到100um的測量點大小。高達數kcps的計數率可以被比例接收器接收到。

        PC

        微聚焦

        3

        40.05*0.05-Φ0.3

        XAN110/120

        專門為分析金合金開發(fā)的劃算的儀器。比較XAN而言,只有一個固定的準直器和固定的濾片,特別適合貴金屬分析。XAN 110配備比例接收器,適于幾種合金元素的簡單分析。XAN120配備了半導體接收器,更可以應用于多元素的復雜分析。

        PC(XAN 110)

        PC(XAN 120)

        標準

        1

        1(Φ0.3XAN110

        1(Φ1XAN120)

        XAN

        分析專用儀器,測量方賂從下到上。用途廣泛。測量室全封閉,可以使作大準直器分析,高計數康可也可被硅漂移探測器處理。激發(fā)和輻射檢測方式與XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物質衡量分析的理想儀器。

        PIN

        SDD

        微聚焦

        3/6

        4(Φ0.2-Φ2

        從上往下測量

        XDL

        適合鍍層厚度測量的耐用儀器,即使大測量距離也可以測量(DCM,范圍0-80mm)配備一個固定的準值器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應用;跟XUL類似??蛇x 用自動測量的可編程工作臺。

        PC

        標準

        1

        1(Φ0.3

        XDLM

        XDL適用面更廣,配備微聚焦管,4個可切換的準直器和3個基本濾片。測量頭與XULM想似;適合于測量小的結構如接插件觸點或印刷線路板,也可以測量大的工作(DCM,范圍0-80mm

        PC

        微聚焦

        3

        40.05*0.05-Φ0.3

        XDAL

        XDLM類似但配備了半導體接收器。這樣就可能可以分析元素和測量超薄層(基于良好的信噪比)。比較適合測量結構較大的樣品。

        PIN

        微聚焦

        3

        4(Φ0.1-Φ0.6

        XDC-SDD

        適合于全部應用的高端機型。根據測量點大小和光譜組成,激發(fā)方式靈活多樣。配備了硅漂移接收器,即使強度高達>100kcps的信號也可以在不損失分辨率的情況下處理。

        SDD

        微聚焦

        6

        4(Φ0.1-Φ0.3

        SDV-U

        專用微觀分析的測量儀器。根據X射線光學部件的不同,可以分析小到100um或更小的結構。強度很高所以精度也非常好。即使很薄的鍍層,測量不確定性小于1nm也是可能的。僅適于測量表面平整或接近平整的樣品。

        SDD

        微聚焦

        4

        多毛細管系統(tǒng)

        XDV-Vacuum

        具備綜合測量能力的通用高端機型。與XDV-XDD相當。但可外配備了可抽真空的測量室,這樣就使得分析從原子序數Z=11(Na)開始的輕元素成為可能。高精度的馬達驅動的XYZ平臺和視頻攝像頭可以精確定位樣品位置和測量細小部件。

        SDD

        微聚焦

        6

        4(Φ0.1-Φ3

        在線測量

        X-RAY 4000

        用于生產過程中薄膜,金屬帶或穿孔帶的連續(xù)測量。測量頭可以裝配與樣品傳送方向的直角的位置。操作方便,啟動迅速。

        數據接口可集成到質量管理或控制系統(tǒng)

        X-RAY54000

        用于生產線上連續(xù)測量的法蘭式測量頭。測量帶狀物,薄膜或玻璃的金屬元素。在空氣和真空都可以測量。提供水冷版本儀器。

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        10分

        售后服務

        10分

        易用性

        10分

        性價比

        10分
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