看了三維表面輪廓儀的用戶又看了
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簡 介:
經(jīng)典光學(xué)顯微鏡可以擴展成一個完善的掃描干涉顯微鏡使其實用性顯著增加。使用這個高精度3D數(shù)據(jù)測量原理可以收集整個顯微鏡的可視范圍。顯微鏡和smartWLI可以完成各種類型的3D分析為基礎(chǔ)。
顯微鏡生成的2D圖像
3D圖像——掃描干涉顯微鏡的功能
測量系統(tǒng) | ||||
測量原理 | 白光干涉法 | |||
z-定位系統(tǒng) | Piezo 物鏡調(diào)節(jié)系統(tǒng) | |||
高度測量范圍 垂直分辨率 | Up to 400 μm 〈1 nm | |||
光源 | LED | |||
相機模塊 | CCD 782 x 582 pixel | |||
物鏡放大倍數(shù) 橫向測量范圍 *小分辨率 | 10x or 20x or 50x 649x483 um² or 324x241 um² or 129x96 um² 1.66 µm or 0.96 µm or 0.70 µm | |||
測量時間 | <1 min | |||
軟件 | ||||
smartWLI | 軟件用于測量地形和使用一個直接接口到MountainsMap分析軟件輸出的3D數(shù)據(jù),自動拼接模塊 | |||
MountainsMap® | 廣泛的分析軟件以及輪廓和三維可視化、測量數(shù)據(jù)預(yù)處理和后處理DIN EN ISO粗糙度和高度的含量測定,順序處理,測量記錄 | |||
文檔格式 | ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIFF |
暫無數(shù)據(jù)!