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DECTRIS混合像素X射線探測(cè)器

一、EIGER2 R探測(cè)器系列

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

在DECTRIS公司所有應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室的探測(cè)器產(chǎn)品系列中，EIGER2 R系列探測(cè)器結(jié)合了所有混合光子計(jì)數(shù)探測(cè)器的***技術(shù)。 它所具有的雙能量識(shí)別有助于在微弱信號(hào)和長(zhǎng)時(shí)間曝光的條件下進(jìn)行背景抑制和提高信噪比。其優(yōu)越的計(jì)數(shù)率性能可以準(zhǔn)確地測(cè)量極高強(qiáng)度的X射線。利用該系列探測(cè)器的巨大動(dòng)態(tài)范圍，可以在零死時(shí)間同步讀/寫(xiě)的狀態(tài)下進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間曝光。由于具備可選擇的真空兼容性，從而使空氣和窗口所產(chǎn)生的吸收和散射*小化。小尺寸像素與X射線直接探測(cè)相結(jié)合，提高了空間分辨率和角度分辨率，可以進(jìn)行精細(xì)地測(cè)量樣品并具有寬泛的倒易空間?？梢栽谌N不同的型號(hào)中進(jìn)行選擇以滿(mǎn)足您的需求。

2、核心優(yōu)勢(shì)：

– 雙能識(shí)別有助于抑制低能量和高能量的背景

– 由于零背景噪音和同時(shí)讀寫(xiě)，所以具有很高的動(dòng)態(tài)范圍

– 小尺寸像素和優(yōu)秀的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)有助于獲得高的空間分辨率

– 可定制在真空環(huán)境下使用；

– 免維護(hù)

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

- 小角X射線散射和廣角X射線散射(SAXS/WAXS）；

- 大分子晶體學(xué)（MX）；

- 化學(xué)結(jié)晶學(xué)；

- 單晶衍射（SCD）；

- 粉末衍射（PD）；

- X射線成像；

- 表面衍射；

- 漫散射。

4、技術(shù)參數(shù)：

二、MYTHEN探測(cè)器系統(tǒng)

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

MYTHEN探測(cè)器系統(tǒng)完全轉(zhuǎn)變了X-射線粉末衍射晶體學(xué)的標(biāo)準(zhǔn)定義，呈現(xiàn)出另一個(gè)層面：時(shí)間。這一令人振奮的新領(lǐng)域與MYTHEN2 X 探測(cè)器**結(jié)合，開(kāi)啟了時(shí)間分辨和現(xiàn)場(chǎng)研究的新紀(jì)元?；贛YTHEN的條帶尺寸和點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)， MYTHEN2 X 在**動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)引入了****的幀速率，挑戰(zhàn)了能量范圍的極限。帶有電子門(mén)控和外部觸發(fā)的探測(cè)器控制系（DCS4）兼顧了定制化的多模塊解決方案以及與其他系統(tǒng)完全同步顧了定制化的多模塊解決方案以及與其他系統(tǒng)完全同步的探測(cè)器。時(shí)間層面并不是促使數(shù)據(jù)質(zhì)量和系統(tǒng)靈活性之間的平衡，無(wú)論從現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)力測(cè)量到快速相變，MYTHEN2 X 深化了其細(xì)節(jié)，并能夠在固態(tài)反應(yīng)中進(jìn)行觀察。MYTHEN2 X 探測(cè)器是為對(duì)速度和數(shù)據(jù)質(zhì)量無(wú)任何限制的高要求的用戶(hù)而設(shè)計(jì)。

2、核心優(yōu)勢(shì)：

- 1000赫茲幀率；

- 兩個(gè)模塊組合：1280和640數(shù)據(jù)帶；

- X-射線能量低至4keV的短數(shù)據(jù)帶；

- 適用于PDF測(cè)量的厚傳感器；

- 多模塊系統(tǒng)滿(mǎn)足您的要求；

- 緊湊型外觀，對(duì)稱(chēng)設(shè)計(jì)；

- 無(wú)需維護(hù)和載體。

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

- 時(shí)間分辨試驗(yàn)；

- X射線粉末衍射和散射技術(shù)；

- 殘余應(yīng)力測(cè)量；

- 薄膜與紋理分析；

- PDF分析；

- SAXS， WAXS， GISAXS；

- 色散熒光光譜。

4、技術(shù)參數(shù)：

*低于4KeV的X-ray能量?jī)H適用于320μm x 4mm的傳感器。

注：所有規(guī)格如有變更，不做另行通知。

PILATUS3 R探測(cè)器系列：

三、

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：

PILATUS3 R 混合光子計(jì)數(shù)（HPC）探測(cè)器經(jīng)過(guò)重新設(shè)計(jì)，旨在實(shí)現(xiàn)**的數(shù)據(jù)質(zhì)量。該系列探測(cè)器基于同步輻射技術(shù)，并融合了兩種關(guān)鍵技術(shù)：?jiǎn)喂庾佑?jì)數(shù)和混合像素技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了更好的實(shí)驗(yàn)室體驗(yàn)。 PILATUS3 R 系列進(jìn)一步完善了我公司實(shí)驗(yàn)室用系列探測(cè)器的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)： DECTRIS 的即時(shí)觸發(fā)技術(shù)配合 PILATUS3 獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，充分提升了計(jì)數(shù)率和計(jì)數(shù)率的準(zhǔn)確校正。

PILATUS3 R 探測(cè)器的高計(jì)數(shù)率，使得其在處理高強(qiáng)度信號(hào)時(shí)顯示了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。 DECTRIS 即時(shí)觸發(fā)技術(shù)可被用來(lái)準(zhǔn)確測(cè)量具有高強(qiáng)度衍射的樣品，如小分子或無(wú)機(jī)復(fù)合物樣品的高強(qiáng)度衍射峰。

單光子計(jì)數(shù)可消除所有的探測(cè)器噪音，從而得到優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)相對(duì)于同步輻射，實(shí)驗(yàn)室中的X射線源要微弱得多，只能得到較為微弱的衍射信號(hào)，因此通常需要較長(zhǎng)的曝光時(shí)間。由于沒(méi)有暗電流和讀出噪音， PILATUS3 R 系列探測(cè)器比其它實(shí)驗(yàn)室用探測(cè)器具有更優(yōu)的性能。

HPC 技術(shù)使得該系列探測(cè)器可直接探測(cè)X射線，比閃爍器探測(cè)器所產(chǎn)生的信號(hào)更為清晰。讀出時(shí)間短并能連續(xù)采集信號(hào)的 PILATUS3 R 系列探測(cè)器可高效輸出優(yōu)質(zhì)數(shù)據(jù)；較低的功耗和冷卻要求可確保您輕松使用并**限度的減少維護(hù)工作量。

PILATUS3 R 系列探測(cè)器專(zhuān)為您的實(shí)驗(yàn)室需求而量身定制，可提供****的同步輻射成熟技術(shù)。具有獨(dú)特性能的PILATUS3 R 系列探測(cè)器，可助您從**挑戰(zhàn)性的樣品中采集到**質(zhì)的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。

2、核心優(yōu)勢(shì)：

– 可在單光子計(jì)數(shù)模式下直接探測(cè)X射線；

– DECTRIS即時(shí)觸發(fā)技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)全程連續(xù)計(jì)數(shù)；

– **的局部和整體計(jì)數(shù)率；

– 準(zhǔn)確的計(jì)數(shù)率校正，可在**計(jì)數(shù)率條件下獲得**數(shù)據(jù)質(zhì)量；

– 無(wú)讀出噪音和暗電流；

– 出色的點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)；

– 高動(dòng)態(tài)范圍；

– 讀出時(shí)間短，幀頻高。

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

– 生物大分子晶體學(xué)（MX）；

– 單晶衍射（SCD）；

– X射線衍射（XRD）；

– 小角和廣角X射線散射（SAXS/WAXS）；

– 表面衍射；

– 漫散射；

– 時(shí)間分辨實(shí)驗(yàn)；

– 成像；

– 無(wú)損檢測(cè)。

4、技術(shù)參數(shù)：