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以*小的投入獲得專家研究級(jí)的結(jié)果。Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)是一種完全集成式單色小光斑 XPS 系統(tǒng)，具備深度剖析能力。先進(jìn)的性能、更低的擁有成本、更高的易用性以及緊湊的尺寸，使 K-Alpha X 射線 XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。

旨在提高從研究應(yīng)用到常規(guī)應(yīng)用的生產(chǎn)率

K-Alpha 光譜儀的光譜分析性能大大提升。這個(gè)巨大的進(jìn)步可實(shí)現(xiàn)更快的分析、更好的元素檢測(cè)以及獲得更高分辨率的數(shù)據(jù)以實(shí)現(xiàn)更好的化學(xué)狀態(tài)鑒定。

分析選項(xiàng)包括復(fù)合型離子源、一個(gè)用于將空氣敏感樣品從手套箱轉(zhuǎn)移到系統(tǒng)的真空傳遞模塊，以及用于收集 ARXPS 數(shù)據(jù)的傾斜模塊。配備 Thermo Scientific™ Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)（全面的表面分析軟件系統(tǒng)），K-Alpha+ 具有一系列的軟件功能，專為優(yōu)化數(shù)據(jù)解讀、數(shù)據(jù)報(bào)告和可用性而設(shè)計(jì)。K-Alpha XPS 系統(tǒng)可滿足經(jīng)驗(yàn)豐富的 XPS 分析員和新手的要求，將高性能單色化 XPS 和濺射深度剖析與智能自動(dòng)化和直觀控制結(jié)合在一起。

強(qiáng)大的性能

• 可選面積能譜分析

• 濺射深度剖析

• 微聚焦單色器

• 快照采集

• 高分辨率化學(xué)狀態(tài)能譜分析

• 絕緣樣品分析

• 定量化學(xué)成像

無(wú)以倫比的易用性

• 采集——能譜、圖像、剖析、線掃描

• 解讀—— 元素和化學(xué)狀態(tài)鑒定

• 處理—— 定量、分峰擬合、實(shí)時(shí)剖析顯示、能譜圖像處理、PCA、相分析、TFA、NLLSF、PSF 扣除、光學(xué)/XPS 圖像疊加

• 報(bào)告—— 自動(dòng)生成報(bào)告且可輕松導(dǎo)出到其他軟件包

• 控制——所有硬件都通過(guò) Avantage 軟件界面進(jìn)行控制

• Avantage Indexer——數(shù)據(jù)存檔索引

• 審計(jì)跟蹤記錄

• 系統(tǒng)性能記錄

• 按需校準(zhǔn)

• 完全的遠(yuǎn)程操控

主要特點(diǎn)

• 分析器—— 180° 雙聚焦半球型分析器，配備 128 通道檢測(cè)器

• X 射線源—— Al Ka 微聚焦單色器，可變光斑尺寸（30-400 μm，以 5 μm 為步長(zhǎng)）

• 離子槍—— 能量范圍 100-4000 eV

• 荷電補(bǔ)償——雙束源

• 樣品處理——4 軸樣品臺(tái)、60 x 60 mm 樣品區(qū)域、20 mm **樣品厚度

• 真空系統(tǒng)——2 x 260 L/s 渦輪分子泵，用于進(jìn)樣室和分析室

• 可選配件——Thermo Scientific™ MAGCIS™復(fù)合型離子源、真空傳遞模塊、用于 ARXPS 的傾斜模塊、樣品偏壓模塊。