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Rigaku ZSX Primus IV是一種管式以上的連續(xù)波長(zhǎng)色散X射線熒光(WDXRF)光譜儀,可以快速定量測(cè)定鈹(Be)到鈾(U)中的主要和次要原子元素,樣本類型 - 以*低標(biāo)準(zhǔn)。
ZSX指導(dǎo)為XRF測(cè)量和數(shù)據(jù)分析的各個(gè)方面提供支持。準(zhǔn)確的分析只能由專家進(jìn)行嗎?不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識(shí)和熟練的專家知識(shí),可以處理復(fù)雜的設(shè)置。操作員只需輸入有關(guān)樣品,分析組分和標(biāo)準(zhǔn)組成的基本信息。具有*小重疊,**背景和校正參數(shù)(包括線重疊)的測(cè)量線可以借助質(zhì)譜自動(dòng)設(shè)置。
ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù),再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有**的性能和分析*復(fù)雜樣品的靈活性,采用30微米的管子,這是業(yè)界*薄的終端窗口管,可提供出色的輕元素(低Z)檢測(cè)限。
結(jié)合***的測(cè)繪包裝來檢測(cè)均勻性和包裹體,ZSX Primus IV可以對(duì)樣品進(jìn)行簡(jiǎn)單詳細(xì)的XRF光譜測(cè)量研究,以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點(diǎn)分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。
EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下對(duì)未知樣品進(jìn)行XRF元素分析。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供*準(zhǔn)確,*快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng),包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和**的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
從Be到U的元素分析
ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)軟件
數(shù)字多通道分析儀(D-MCA)
EZ分析界面進(jìn)行常規(guī)測(cè)量
管道上方的光學(xué)器件使污染問題*小化
占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限
微量分析可分析小至500μm的樣品
30μ管提供**的輕元素性能
映射功能的元素地形/分布
氦氣密封意味著光學(xué)器件始終處于真空狀態(tài)
暫無數(shù)據(jù)!