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            ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀
            ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀

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            ZSX Primus III +

            Rigaku ZSX Primus III +以很少的標準在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。

            高于光學元件的管道,可靠性更高

            ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。

            高精度樣品定位

            樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用獨特的光學配置進行高精度分析,旨在限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒

            使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)

            EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供*準確,*快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應。使用匹配庫和**的掃描分析程序可以提高準確度。

            特征

            • 元素從O到U的分析

            • 管道上方的光學器件使污染問題*小化

            • 占地面積小,使用的實驗室空間有限

            • 高精度樣品定位

            • 特殊光學元件可減少曲面樣品表面造成的誤差

            • 統(tǒng)計過程控制軟件工具(SPC)

            • 吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率

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            10分

            易用性

            10分

            性價比

            10分
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