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臺(tái)式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(XAFS/XES)
美國(guó)easyXAFS公司**推出臺(tái)式X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(XAFS/XES),采用獨(dú)有的X射線單色器設(shè)計(jì),無(wú)需同步輻射光源,在常規(guī)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中實(shí)現(xiàn)X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)測(cè)量和分析,提供XAFS和XES兩種測(cè)量模式,并輕松相互切換。以極高的靈敏度和光源質(zhì)量,廣泛應(yīng)用在催化、電池等研究領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)對(duì)元素的測(cè)定、定量和價(jià)態(tài)分析等。
XAFS300 | XES100 |
easyXAFS產(chǎn)品參數(shù)
X射線源: XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w) XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W) 能量范圍: 5-12keV; 可達(dá)19keV 分辨率: 0.5-1.5eV 樣品塔: 7位自動(dòng)樣品輪 布拉格角: 55-85 deg | 檢測(cè)器: SDD 單晶尺寸: 球面單晶(Si/Ge) 直徑10cm,曲率半徑100cm 軟件: LabVIEW, 腳本掃描 擴(kuò)展: 儀器可外接設(shè)備,控制樣品條件 分析儀校準(zhǔn): 預(yù)先校準(zhǔn),快速插拔更換 |
easyXAFS 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
- 無(wú)需同步輻射光源
- 科研級(jí)別譜圖效果
- 臺(tái)式設(shè)計(jì),實(shí)驗(yàn)室內(nèi)使用
- 可外接儀器設(shè)備,控制樣品條件
- 可實(shí)現(xiàn)多個(gè)樣品或多種條件測(cè)試
- 操作便捷、維護(hù)成本低
easyXAFS 應(yīng)用案例譜圖展示
1、XAFS300
2、XES100
■ XES Mode
■ XAFS Mode
easyXAFS 已發(fā)表文章
1. Jahrman, Seidler, et al., J. Electrochem. Soc. 2019.
2. Jahrman, Holden, et al., Rev. Sci. Instrum. 2019.
3. Bès, Ahopelto, et al., J. Nucl. Mater. 2018.
4. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 2018
5. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal. Chem., 2018
6. Holden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018.
7. Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018.
8. Padamati, Angelone, et al., JACS, 2017
9. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.
10. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 2017
11. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.
12. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.
13. Seidler, Mortensen, et al., Rev. Sci. Instrum. 2014.
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