參考價格
面議型號
品牌
產(chǎn)地
其他國家樣本
暫無看了Semilab–Sopra橢偏儀的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
應用:
◆ 薄膜厚度、n值及k值的測量,可應用于任何薄膜生長或者鍍膜工藝的監(jiān)控。
技術參數(shù):
Sopra公司是世界上*知名的橢偏儀設備供應商,其高精度的橢偏儀在半導體、化合物半導體(GaAs/SiC)、LCD及MEMS領域有著非常廣泛的應用。目前,全世界有超過500臺的Sopra橢偏儀應用于各個行業(yè)。
主要特點:
◆ 高精度的薄膜測量(膜厚、n值、k值);
◆ 全世界**家寬光譜橢偏儀技術的***;
◆ VLSI及其他的測試標準均由Sopra標第;
◆ 強擴展性:Fast UV VIS CCD 模式,高分辨率DUV-VIS模式及FTIR/4PP功能。
暫無數(shù)據(jù)!